単一化パラメータ手法による湾曲Bi2223複合テープの臨界電流分布の解析および平均不可逆歪近傍での平均臨界電流-曲げ歪関係の記述への応用

OCHIAI S; OKUDA H; SUGANO M; HOJO M; OSAMURA K; KURODA T; ITOH K; KITAGUCHI H; KUMAKURA H; WADA H

文献

J-GLOBAL ID：201002261819677892 整理番号：10A0252713

単一化パラメータ手法による湾曲Bi2223複合テープの臨界電流分布の解析および平均不可逆歪近傍での平均臨界電流-曲げ歪関係の記述への応用

Analysis of critical current distribution of bent Bi2223 composite tapes by unifying parameter approach and its application to the description of average critical current-bending strain relation near the average irreversible strain

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=10A0252713&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=10A0252713&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=T0607A") }}

著者 (10件)： , , , , , , , , ,
資料名：
巻： 23 号： 2 ページ： 025006,1-12 発行年： 2010年02月
JST資料番号： T0607A ISSN： 0953-2048 CODEN： SUSTEF 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

三種類のBi2223複合テープ(VAM1,VAM2,VAM3)の超伝導臨界電流を77Kで1%までの曲げ歪ε_Bを加えて計測し,統計的特性を調べた。VAM1,VAM2,VAM3はフィラメント数,Bi2223,AgおよびAg合金の体積比,幅および厚さを異にし,試料数はそれぞれ33,6,9である。テープ断面中の超伝導コアの形状をそれぞれ数式化し,ε_Bによる引張歪がε_f-ε_r以上になるとフィラメントが損傷をおこすので,損傷したコア面積を評価すると臨界電流値が算出できる。ここでε_fは破壊歪,ε_rは残留歪であり,ε_f-ε_rを単一化パラメータとして用いる。逆に臨界電流の実験値からε_f-ε_rを求めることが可能であり,これは試料ごとに様々な値となる。ここでその平均値(ε_f-ε_r)_aveを求めるとテープの種類ごとに異なるが,ε_Bには依存しない一定の値となることが分かった。(ε_f-ε_r)_aveを用い,損傷コア面積を求めれば平均臨界電流を算出できる。これにより,平均不可逆曲げ歪ε_B,irr,aveをVAM1,VAM2,VAM3についてそれぞれ求めることが出来た。ε_f-ε_rおよびε_B,irrのパラメータは試料ごとに異なり,その分布はWeibull分布関数で表すことが出来た。試料ごとに臨界電流-ε_Bからパラメータを算出する方法Aと種類ごと,全試料の各ε_Bについて算出する方法Bを行い,Weibull分布関数を当てはめた。分布したε_f-ε_rを用いて平均臨界電流を計算すると,不可逆曲げ歪の値が方法AとBでの差異はほとんどなく,ε_B,irr,aveよりも小さな値となることが示された。

, , , , , , , , , , ,
, , ,

超伝導材料 , 酸化物系超伝導体の物性

, , , , , , , , , , , , , ,

前のページに戻る