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J-GLOBAL ID：201002270250536780   整理番号：10A0201197

コルゲート固体表面電子スペクトロスコピー

Electron Spectroscopy of Corrugated Solid Surfaces

著者 (1件)： ZEMEK J. (Inst. of Physics, Acad. of Sciences of the Czech Republic)
資料名： Analytical Sciences  (Analytical Sciences)
巻： 26  号： 2  ページ： 177-186 (J-STAGE)  発行年： 2010年 
JST資料番号： G0673B  ISSN： 0910-6340  CODEN： ANSCEN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面感応電子分光法,すなわち一次X線誘起光電子スペクトロスコピー(XPS)及び簡易Auger電子分光法(AES),反射モード(REELS)の電子エネルギー損失スペクトロスコピー及び弾性ピーク電子スペクトロスコピー(EPES)の電子スペクトル強度に及ぼす非理想的表面トポグラフィーの影響をレビューした。問題を解決するいくつかの試みとして,(i)単一パラメータを用いた表面粗さの影響補正,(ii)規則的構造単位からなる表面粗さモデルに基づいたコンピュータシミュレーションの電子スペクトル強度計算への適用及び(iii)原子間力顕微鏡(AFM)による分析試料の注意深い表面マッピングに基づいた半経験的方法を詳細に考察した。第一アプローチは複雑な表面トポグラフィーも含めて簡単で適切なことが分かった。第二技法は表面トポグラフィーに関連する現象の理解に有効であり,第三技法は共形被覆層による任意粗さの固体表面に適しており,理想的平坦表面における現行の定量的方法に組み込むことができた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： X線光電子分光法 ,  Auger分光法 ,  電子エネルギー損失分光法 ,  *電子分光法 ,  コルゲート導波管 ,  トポグラフィー【形態】 ,  スペクトル線強度 ,  表面粗さ ,  計算機シミュレーション ,  原子間力顕微鏡 ,  半経験的方法 ,  共形平坦時空 ,  平坦性 ,  補正 ,  被覆 ,  定量的分析 ,  *表面分析 ,  技術展望
準シソーラス用語： EPES【分光法】

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

引用文献 (60件)：

• 1. T. R. Thomas (ed.), “Rough Surfaces”, 1982, Longman Group, London.
• 2. C. S. Fadley, R. J. Baird, T. Novakov, and S. A. L. Bergstrom, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 1974, 4, 93.
• 3. D. Briggs and J. T. Grant (ed.), “Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy”, 2003, IM Publications and Surface Spectra Ltd.
• 4. C. J. Powell and A. Jablonski, J. Phys. Chem. Ref. Data, 1999, 28, 19.
• 5. P. J. Cumpson, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 1995, 73, 25.

タイトルに関連する用語 (4件)： コル ,  ゲート ,  固体表面 ,  電子スペクトロスコピー