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J-GLOBAL ID：201002271881619608   整理番号：10A0776343

μ-Raman分光法を用いた二重層グラフェン中のエッジ純度の決定

Determination of edge purity in bilayer graphene using μ-Raman spectroscopy

著者 (5件)： BEGLIARBEKOV Milan (Dep. of Physics and Engineering Physics, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA) ,  SUL Onejae (Dep. of Mechanical Engineering, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA) ,  KALLIAKOS Sokratis (Dep. of Physics and Engineering Physics, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA) ,  YANG Eui-hyeok (Dep. of Mechanical Engineering, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA) ,  STRAUF Stefan (Dep. of Physics and Engineering Physics, Stevens Inst. of Technol., Hoboken, New Jersey 07030, USA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 97  号： 3  ページ： 031908  発行年： 2010年07月19日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 偏光分解μ-Raman分光法を二重層グラフェンのエッジで実行した。理論予測に従い,その強度依存性がアームチェアとジグザグケースの相から90°である,入射レーザ偏光に対するGバンド強度の強い依存性を見出した。混合状態エッジのケースについて,偏光コントラストが(効率的ナノエレクトロニクス素子開発の重要パラメータである)アームチェアとジグザグエッジの部分組成を反映し,エッジ純度のモニタを提供することを実証した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *顕微Raman分光法 ,  多層膜 ,  *グラファイト ,  端部 ,  純度 ,  偏光 ,  レーザ ,  混合 ,  コントラスト ,  化学組成 ,  監視装置 ,  *グラフェン
準シソーラス用語： ジグザグ構造 ,  ナノエレクトロニクス ,  二重層

分類 (2件)： 炭素とその化合物  (YB02060D) ,  赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル一般  (BM08061U)

タイトルに関連する用語 (5件)： Raman分光法 ,  二重層 ,  グラフェン ,  エッジ ,  純度