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J-GLOBAL ID：201002272243204618   整理番号：10A0414134

六方晶グラファイト積層不規則度のX線回折による新規な決定法

Novel method for determining stacking disorder degree in hexagonal graphite by X-ray diffraction

著者 (3件)： LI Hui (Shanghai Shanshan Tech. Co., Ltd., Shanghai) ,  YANG ChuanZheng (Shanghai Inst. of Micro-system and Information Technol., Chinese Acad. of Sciences, Shanghai) ,  LIU Fang (Shanghai Shanshan Tech. Co., Ltd., Shanghai)
資料名： Science in China. Series B: Chemistry  (Science in China. Series B: Chemistry)
巻： 52  号： 2  ページ： 174-180  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2575A  ISSN： 1006-9291  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 六方晶グラファイト積層不規則度の広がり効果は,明らかに選択的広がり効果を示す六方晶最密充填(HCP)構造の積層欠陥のものと同一であるとXRDにより実験で分った。本報では,六方晶ZnO結晶欠陥の2つの広がり効果を扱うLongford法を拡張し,次いで2H-グラファイトの積層欠陥決定に適用し,本拡張法が実験とデータ処理の両方で便利であり,一般化できることを示した。本研究では,2H-グラファイトの2つの積層欠陥モデルとデータ処理法を提案した。101と102回折ピークの高信頼性FWHMが得られれば,P_(AB)とP_(ABC)の2つの不規則度を計算できる。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *グラファイト ,  *積層欠陥 ,  *六方晶系 ,  *性質 ,  結晶構造 ,  充填 ,  *X線回折 ,  データ処理 ,  汎化 ,  システムモデル ,  FWHM
準シソーラス用語： 最密充填 ,  *不規則性 ,  一般化

分類 (4件)： 炭素とその化合物  (YB02060D) ,  非金属元素とその化合物の結晶構造  (BK07010N) ,  その他の物理分析  (CC03014E) ,  その他の無機化合物の格子欠陥  (BK12050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 六方晶 ,  グラファイト ,  不規則度 ,  X線回折