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J-GLOBAL ID:201002272308116037   整理番号:10A0686261

マグネトロンスパッタリングを使った400°C以下の温度におけるSiO2中のGeナノ粒子のサイズ制御合成

Size controlled synthesis of Ge nanocrystals in SiO2 at temperatures below 400 °C using magnetron sputtering
著者 (4件):
資料名:
巻: 96  号: 26  ページ: 261901  発行年: 2010年06月28日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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典型的な成長温度より非常に低い400°C以下の低温でGeナノ粒子(Ge-nc)を合成する簡単でシリコンプロセスと両立する技術を報告する。Ge-ncは350°Cと420°Cの間の温度窓内部にしか形成されないことが分った。その基礎となる化合物はVolmer-Weber成長と酸化反応との競合する過程で説明した。さらに,高い結晶品質の制御可能な結晶粒サイズを見せる多層化Ge-ncを作成する技術も実装した。本研究で開発した低温技術は,ガラスのような低コスト基板上にGe-ncや相対素子を作成できるであろう。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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半導体薄膜 
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