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J-GLOBAL ID：201002273577286956   整理番号：10A1527934

超高分解能STEMによる複雑化合物の局所解析

著者 (4件)： 阿部英司 (東大 大学院工学系研究科) ,  江草大祐 (東大 大学院工学系研究科) ,  石川亮 (東大 大学院工学系研究科) ,  関岳人 (東大 大学院工学系研究科)
資料名： 日本電子News
巻： 42  ページ： 22-26  発行年： 2010年 
JST資料番号： Y0013A  ISSN： 0386-6572  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 対物レンズの球面収差補正によって収束電子ビームを1Å以下に絞ることのできるSTEM(走査型電子顕微鏡)の高分解能を利用して,複雑化合物の局所構造解析を行った事例を紹介した。STEM装置について説明した後,Mg-Zn-希土類合金の長周期変調構造,La-Ni系水素吸蔵化合物の局所化学分析,ならびにAl₇₀Mn₁₇Pd₁₃三元系準結晶中の元素規則配列に関する解析事例について述べた。

シソーラス用語： *電子顕微鏡観察 ,  *高分解能電子顕微鏡 ,  構造解析 ,  *走査電子顕微鏡 ,  *分子構造 ,  希土類合金 ,  変調構造 ,  水素貯蔵合金 ,  化学分析 ,  準結晶 ,  分子配向

分類 (2件)： 分子構造と性質の実験的研究  (CB01020I) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (15件)：

• S. J. Pennycook, D. E. Jesson,“High-reso-lution Z-contrast imaging of crystals”, Ultramicroscopy 37, 14-38(1991).
• E. Okunishi et al., Microsc. Microanal.15,(suppl.2) 164(2009).
• H. Sawada et al.,“Achieving 63pm reso-lution in scanning transmission electron microscope with spherical aberration corrector”, Jpn. J. Appl. Phys.46, L568-L570(2007).
• H. Sawada et al.,“STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration-corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun” J. Electron Microscopy 58, 357-361,(2009).
• E. Abe et al.,“Long-period ordered structure in a high-strength nanocrys-talline Mg-lat.% Zn-2at.% Y alloy stud-ied by atomic-resolution Z-contrast STEM” Acta Materialia, 50, 3845-3857(2002).

タイトルに関連する用語 (3件)： 高分解能 ,  STEM ,  解析