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J-GLOBAL ID：200902254660561211   整理番号：09A1281040

300kV冷電界放射電子銃で球体収差を補正した電子顕微鏡による47-pm-分離の原子コラムのSTEMイメージ

STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration-corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun

著者 (15件)： SAWADA Hidetaka (JST-CREST, Tokyo) ,  SAWADA Hidetaka (JEOL Ltd, Tokyo) ,  TANISHIRO Yasumasa (JST-CREST, Tokyo) ,  TANISHIRO Yasumasa (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  OHASHI Nobuhiro (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  TOMITA Takeshi (JST-CREST, Tokyo) ,  TOMITA Takeshi (JEOL Ltd, Tokyo) ,  HOSOKAWA Fumio (JST-CREST, Tokyo) ,  HOSOKAWA Fumio (JEOL Ltd, Tokyo) ,  KANEYAMA Toshikatsu (JST-CREST, Tokyo) ,  KANEYAMA Toshikatsu (JEOL Ltd, Tokyo) ,  KONDO Yukihito (JST-CREST, Tokyo) ,  KONDO Yukihito (JEOL Ltd, Tokyo) ,  TAKAYANAGI Kunio (JST-CREST, Tokyo) ,  TAKAYANAGI Kunio (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 58  号： 6  ページ： 357-361  発行年： 2009年12月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： イノベーティブな研究への応用のために50pmの解像度の電子顕微鏡の戸を開くために,300kV冷電界放射電子銃をTEMとSTEMに具えて,電子顕微鏡の収差補正の開発を行なった。使用したサンプルは,Ge(112)と(114)面で,広角暗視野(HAADF)STEMで評価した。いわゆるダンベル型イメージが,(112)では82pm,(114)面では47pmで2つの隣り合ったゲルマニュウム原子の列が観測された。観測されたイメージは力学計算で得るシミュレートされたイメージと比較した。

シソーラス用語： 亜鈴 ,  *分解能 ,  *電子顕微鏡 ,  電子銃 ,  *透過型走査電子顕微鏡 ,  *透過型電子顕微鏡 ,  *収差補正 ,  *ゲルマニウム ,  X線回折 ,  視野 ,  原子 ,  画像
準シソーラス用語： *STEM ,  *TEM【顕微鏡】 ,  イメージ ,  ダンベル ,  暗視野 ,  *解像度 ,  広角X線回折

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (8件)： 電子銃 ,  球体 ,  収差 ,  電子顕微鏡 ,  原子 ,  コラム ,  STEM ,  イメージ