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J-GLOBAL ID：201002284415045655   整理番号：10A1070865

半導体式ガスセンサに用いられるSnO₂系センシング材料中のドーパントの役割(3)-X線回折法・中性子回折法による結晶構造解析

THE ROLE OF DOPANTS IN SnO₂-BASED SEMICONDUCTOR GAS SENSING MATERIALS (3)-CRYSTAL STRUCTURE ANALYSES USING X-RAY AND NEUTRON DIFFRACTION METHODS

著者 (5件)： 野村勝裕 (産業技術総合研) ,  蔭山博之 (産業技術総合研) ,  皆越知世 (新コスモス電機) ,  前川亨 (新コスモス電機) ,  神田奎千 (新コスモス電機)
資料名： Chemical Sensors  (Chemical Sensors)
巻： 26  号： Supplement B  ページ： 112-114  発行年： 2010年09月02日 
JST資料番号： L3948A  CODEN： KAGSEU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では,SnO₂系材料Ce-Sb-SnO₂の粉末試料について,平行ビーム光学系を備えた実験室系X線回折装置,及び中性子回折装置(HERMES)を用いて行った結晶構造解析の結果を報告した。Ce-SnO₂系,Ce-Sb-SnO₂系とも,添加量0.6mol%以下ではCe量に比例して格子定数が大きくなるが,同0.8mo1%以上では格子定数の増加割合が小さくなることが分かる。Sb-SnO₂系,Ce-Sb-SnO₂系とも,Sb添加量1.0moI%以下ではSb量に比例して格子定数が大きくなることが分かる。また,Sb-SnO₂系のSb添加量2.0mol%以上では,1.0mol%以下と比べて格子定数の増加割合がわずかに大きくなった。結晶構造図,核密度図,及び電子密度図において,スズ及び酸素の原子位置が良く一致していることが分かる。スズはほぼ球形の核密度分布を,酸素はわずかに非球形の核密度分布をしていることが分かる。スズ,酸素とも非球形の電子密度分布をしていることが分かる。スズと酸素の間の化学結合については,SnO₆八面体を形成する6個の酸素の内,隣接するSnO₆八面体と稜共有している酸素4個に対して,共有結合性が大きいことが分かる。

シソーラス用語： *半導体 ,  *ガスセンサ ,  *酸化スズ ,  *検出 ,  *ドーパント ,  役割 ,  X線回折 ,  中性子回折 ,  *結晶構造解析 ,  粉体 ,  ドーピング ,  格子定数 ,  結晶構造 ,  電子密度 ,  密度分布 ,  スズ ,  酸素 ,  共有結合 ,  八面体
準シソーラス用語： センシング ,  粉末

分類 (3件)： 計測機器一般  (AD02000X) ,  化学プロセスの測定,監視,計装  (XC02030Y) ,  酸化物の結晶成長  (BK13050I)

引用文献 (6件)：

• M. Batzill and U. Diebold, Progress in Surface Science, 93, 47(2005).
• T. Maekawa, C. Minagoshi and S. Nakamura, Chemical Sensors, 23 Supplement A, 97(2007).
• K. Nomura, Journal of the Crystallographic Society of Japan, 50, 155(2008).
• K. Ohoyama, T Kanouchi, K. Nemoto, M. Ohashi, T. Kajitani and Y. Yamaguchi, Japanese Journal of Applied Physics, 37, 3319(1998).
• F. Izumi and K. Momma, Solid State Phenomena, 130, 15(2007).

タイトルに関連する用語 (8件)： ガスセンサ ,  SnO2 ,  センシング ,  ドーパント ,  役割 ,  X線回折法 ,  中性子回折 ,  結晶構造解析