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J-GLOBAL ID：201002285261399250   整理番号：10A0449777

表面のプロファイル測定のための構造化光パターンの最先端技術

A state of the art in structured light patterns for surface profilometry

著者 (4件)： SALVI Joaquim (Inst. of Informatics and Applications, Univ. of Girona, Av. Lluis Santalo S/N, E-17071 Girona, ESP) ,  FERNANDEZ Sergio (Inst. of Informatics and Applications, Univ. of Girona, Av. Lluis Santalo S/N, E-17071 Girona, ESP) ,  PRIBANIC Tomislav (Fac. of Electrical Engineering and Computing, Univ. of Zagreb, Unska 3, HR-10000 Zagreb, HRV) ,  LLADO Xavier (Inst. of Informatics and Applications, Univ. of Girona, Av. Lluis Santalo S/N, E-17071 Girona, ESP)
資料名： Pattern Recognition  (Pattern Recognition)
巻： 43  号： 8  ページ： 2666-2680  発行年： 2010年08月 
JST資料番号： D0611A  ISSN： 0031-3203  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 符号化した構造化光を用いた形状再構成は,物体の表面を回復するためのもっとも信頼性の高い技術と考えられる。較正したプロジェクタ-カメラの対を用いて光パターンをシーン上に投影して,カメラにより撮像する。投影パターンと回復パターンとの対応を見出し,これを用いて3Dの表面情報を抽出する。ここでは最先端のレビューを示し,既存の技術を新たに分類した。これらの技術のいくつかを実装して,比較し,定性的および定量的結果を求めた。さまざまなパターンの長所と短所およびそれらの可能性を検討した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 形態 ,  形状測定 ,  *投光照明 ,  符号化 ,  表面再構成 ,  キャリブレーション ,  *カメラ ,  *三次元測定 ,  レビュー ,  比較試験
準シソーラス用語： 表面形状

分類 (3件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  その他の光学機器  (QF05060C) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (3件)： プロファイル ,  構造化光 ,  最先端技術