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J-GLOBAL ID：201002287937220324   整理番号：10A0707769

遅延線検出器を用いるC₆₀⁺二次イオン顕微鏡観察法

C₆₀⁺ Secondary Ion Microscopy Using a Delay Line Detector

著者 (7件)： KLERK Leendert A. (FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD) ,  LOCKYER Nicholas P. (Univ. Manchester, Manchester, GBR) ,  KHARCHENKO Andriy (FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD) ,  MACALEESE Luke (FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD) ,  DANKERS Patricia Y. W. (Univ. Medical Center Groningen, Groningen, NLD) ,  VICKERMAN John C. (Univ. Manchester, Manchester, GBR) ,  HEEREN Ron M. A. (FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 82  号： 3  ページ： 801-807  発行年： 2010年02月01日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： イオン光学顕微鏡と非焦点化のC₆₀⁺ビームを組み合わせた遅延線検出器の利用について調べた。遅延線検出器によって全ての質量スペクトル及び定位情報を含む完全に分割されたハイパースペクトルデータを取得することができた。イオン顕微鏡モードの質量分析イメージングは一次ビームの焦点化に依存しない利点を有しており,C₆₀を高いイオン電流で操作することができた。画像分解能は250nmの画素サイズにおいて4μmであった。ウレイドピリミジノン-ラット腎臓組織の複合ヒドロゲル試料についてマイクロメータ規模の特徴を分割することができた。ここに示したアプローチによってC₆₀⁺ビーム電流を利用した高品質の二次イオン質量分析イメージングが可能であった。

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *画像処理 ,  *イオン顕微鏡法 ,  フラーレンC60 ,  遅延線 ,  検出器 ,  イオンビーム ,  クラスタイオン ,  イオンビームスパッタリング ,  電子顕微鏡観察 ,  透過型電子顕微鏡 ,  マイクロプローブ ,  飛行時間法 ,  質量スペクトル ,  データ収集 ,  イオン電流 ,  分解能 ,  腎臓 ,  生体組織
準シソーラス用語： C60フラーレン ,  ハイパースペクトル ,  バックミンスターフラーレン ,  画像分解 ,  *質量分析イメージング

分類 (3件)： 質量分析  (CC03013N) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 遅延線 ,  検出器 ,  二次イオン ,  顕微鏡観察法