PHILLIPS P. Jonathon について
National Inst. Standards and Technol. (NIST), MD について
SCRUGGS W. Todd について
Sci. Applications International Corp., VA について
O’TOOLE Alice J. について
Univ. Texas at Dallas, TX について
FLYNN Patrick J. について
Univ. Notre Dame, IN について
BOWYER Kevin W. について
Univ. Notre Dame, IN について
SCHOTT Cathy L. について
Schafer Corp., VA について
SHARPE Matthew について
Ames HCI Group, CA について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
物体認識 について
バイオメトリクス について
評価試験 について
ヒューマンパフォーマンス について
照明条件 について
パターン認識 について
虹彩 について
パターンマッチング について
アルゴリズム について
精度 について
システム評価 について
顔認識 について
虹彩認識 について
パターン認識 について
生体計測 について
図形・画像処理一般 について
ICE について
大規模 について
実験結果 について