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J-GLOBAL ID:201002289250842484   整理番号:10A0466593

ZnO/Siから成るヘテロ接合のエレクトロルミネセンス特性:エネルギーバンド配列と界面の微小構造

Electroluminescence behavior of ZnO/Si heterojunctions: Energy band alignment and interfacial microstructure
著者 (8件):
資料名:
巻: 107  号:ページ: 083701  発行年: 2010年04月15日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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n-ZnO/p-Siから成るヘテロ接合を基本とする発光ダイオード(LED)は欠陥に関係する弱いエレクトロルミネセンス(EL)を示す。弱いELの起源を解析するために,X線光電子分光法によってZnO/Siヘテロ接合のエネルギーバンド配列と界面微小構造を研究した。研究結果から,価電子帯のバンドオフセット(VBO)は3.15±0.15eV,そして伝導帯のバンドオフセットは-0.90±0.15eVであることが分かった。このことはこのヘテロ接合がII型のバンド配列を持つことを示唆している。VBOが大きいことは,SiからZnOに注入される正孔に対するポテンシャル障壁が高いことを意味し,結果として荷電キャリヤの再結合はZnO層よりはむしろSi側で主に起こることが分かった。また,厚さが2.1nmのSiOx界面層がZnO/Si界面に形成されることも分かった。避けることのできないSiOx界面層によってZnO/Si界面に多くの無輻射中心が形成され,ZnO薄膜の結晶の品質を低下させる。n-ZnO/p-Siから成るLEDからの弱いELは,ZnO/Siにおける高いVBOとSiOx界面層の存在に起因することが分かった。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体のルミネセンス  ,  発光素子 

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