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J-GLOBAL ID：201002290900600608   整理番号：10A0749432

アモルファス材料におけるミクロン寸法での残留応力分布のマッピング

Mapping Residual Stress Distributions at the Micron Scale in Amorphous Materials

著者 (6件)： WINIARSKI Bartlomiej (Univ. Manchester, Manchester, GBR) ,  LANGFORD Richard M. (Univ. Manchester) ,  TIAN Jiawan (Univ. Tennessee, TN) ,  YOKOYAMA Yoshihiko (Himeji Inst. of Technol., Himeji, JPN) ,  LIAW Peter K. (Univ. Tennessee, TN) ,  WITHERS Philip J. (Univ. Manchester, Manchester, GBR)
資料名： Metallurgical and Materials Transactions. A. Physical Metallurgy and Materials Science  (Metallurgical and Materials Transactions. A. Physical Metallurgy and Materials Science)
巻： 41  号： 7  ページ： 1743-1751  発行年： 2010年07月 
JST資料番号： E0265B  ISSN： 1073-5623  CODEN： MTTABN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ガラス材料内の残留応力はその素子や部品の品質を左右するが,それをミクロン寸法で測定することは従来法では困難である。本研究ではアモルファス材料内の残留応力分布のマッピング法を研究した。焦点イオンビームの半破壊的力学的緩和法によって,ピーニング処理と疲労試験を行ったバルク金属ガラスZr₅₀Cu₄₀Al₁₀合金における残留応力のマッピングを行った。残留応力の表面緩和を有限要素解析法で推論した。疲労試験の後で塑性変形した表面層における圧縮残留応力の深さ方向分布が著しく変化することを見出した。

シソーラス用語： *非晶質合金 ,  *残留応力 ,  イオンビーム ,  *ジルコニウム合金 ,  銅含有合金 ,  アルミニウム含有合金 ,  有限要素法 ,  表面 ,  疲れ試験 ,  ショットピーニング ,  変位 ,  距離 ,  硬度 ,  *応力測定 ,  *応力分布 ,  長さ ,  応力緩和 ,  圧縮応力 ,  深さ分布 ,  写像 ,  *バルク金属ガラス
準シソーラス用語： ミクロンサイズ

分類 (2件)： 機械的性質  (WB02030U) ,  材料試験  (HB02020U)

タイトルに関連する用語 (4件)： アモルファス ,  残留応力 ,  分布 ,  マッピング