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J-GLOBAL ID：201002290973142306   整理番号：10A0450668

X線光電子分光法による試料の自動検査のためのエキスパートシステムにおける開発

Developments in expert systems for automatic examination of samples by X-ray photoelectron spectroscopy

著者 (1件)： CASTLE J.e. (The Surface Analysis Lab., The Fac. of Engineering and Physical Sci., Mail Drop A1, Univ. of Surrey, Guildford, GU2 ...)
資料名： Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena  (Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 178-179  ページ： 347-356  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： D0266C  ISSN： 0368-2048  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 簡潔な序文は科学と技術の広範な学問分野からのユーザが要求する,情報の型をすぐ提供するための,取得中のX線光電子スペクトル(XPS)の自動審問の必要性を確立する。この達成での進歩のレビューは進歩が,概観調査から有用情報を引き出しこれを例えば表面上の汚染と膜厚の評価のために扱う,簡単な規則の使用の説明でなされたことを示す。しかし不可欠な次の段階は,異なる分野からのユーザが彼らのXPSの使用から得ることを期待する,情報のデータベースを確立することであることを論じる。情報であるかもしれないもののいくらかの例を,接着科学,触媒表面及び生物システムの様ないくつかの分野について与える。このリストは情報をゴールの形で提供し,各々は表面の必要な特性評価を達成する様に,データの解釈での比較的小さい段を表現するために,大きく拡張すべきことを提案する。最後に概観調査における情報が,個々のピークを通じる曲線当てはめ高分解能調査から得るそれに匹敵する次第の例を,金属と合金での規則ベースの検証の方法によって与える。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *X線光電子分光法 ,  試料 ,  自動検査システム ,  *エキスパートシステム ,  情報 ,  X線光電子スペクトル ,  調査 ,  *表面 ,  汚染 ,  膜厚 ,  データベース ,  接着 ,  触媒 ,  生体系 ,  キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： 生物システム

分類 (2件)： 電子分光法  (BK01050P) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線光電子分光法 ,  試料 ,  自動検査 ,  エキスパートシステム ,  開発