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J-GLOBAL ID：201002292489604748   整理番号：10A0556511

統計的モデル化についての変化の逆伝搬(BPV)の拡張

Compact Variability Modeling for Nanometer CMOS Technology Extensions to Backward Propagation of Variance for Statistical Modeling

著者 (4件)： MCANDREW Colin C. (Freescale Semiconductor) ,  LI Xin (GlobalFoundries) ,  STEVANOVIC Ivica (ABB Corporate Res. Center) ,  GILDENBLAT Gennady (Arizona State Univ.)
資料名： IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)
巻： 27  号： 2  ページ： 36-43  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 0740-7475  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 変化の逆伝搬(Backword Propagation of Variance)技術は,矛盾するが広くそして狭い統計的変化についての物理を基礎とする統計的モデル化として統一的なアプローチである。本稿では,BPVの最近の拡張と進歩を記述した。プロセスパラメーターに関する電気的性能の線形依存性の仮定がどのようにして緩和できるか,そしていろいろな電気的性能間の相関が手順に明に含められるかを示す。モデル化の目標として回路性能の測定も行ない,モデル化されるべき電気的性能を過剰仕様化することが全体的な統計的モデル化の正確さを向上できることを示す。

シソーラス用語： *統計模型 ,  伝搬 ,  *モデリング ,  *CAD【計算機】 ,  *回路設計
準シソーラス用語： *電子回路設計

分類 (2件)： 統計的品質管理  (KB04030W) ,  CAD,CAM  (JE10000A)

タイトルに関連する用語 (4件)： 統計 ,  モデル化 ,  伝搬 ,  拡張