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J-GLOBAL ID：201002299227614372   整理番号：10A0145286

分光器惰円測定法によるペンタセン薄膜の光学定数の測定

Determination of optical constants of pentacene thin film by spectroscopic ellipsometry

著者 (2件)： DATTA Debjit (Dep. of Physics and Samtel Centre for Display Technologies (SCDT), Indian Inst. of Technol. Kanpur, Kanpur-208016, IND) ,  KUMAR Satyendra (Dep. of Physics and Samtel Centre for Display Technologies (SCDT), Indian Inst. of Technol. Kanpur, Kanpur-208016, IND)
資料名： Solar Energy Materials and Solar Cells  (Solar Energy Materials and Solar Cells)
巻： 94  号： 3  ページ： 420-424  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： D0513C  ISSN： 0927-0248  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 形態学と構造的特徴付けで支援されたモデル手順を強調しながら,分光器惰円測定法を使用して広いスペクトル域でのペンタセンの光学定数[N(E)=n(E)+ik(E)]が提示される。適当なモデルの誘電関数に関しては,モデルにおけるKramers-Kronig一貫性と状態密度を考慮の上,機能,古典-振動子,Forouhi-Bloomer及びTauc-Lorentzモデルが採用された。比較のおいて,二重層スタック・モデルも持つTauc-Lorentzモデルが,意味ある光学パラメータの抽出に適していることが判明した。ペンタセンの光学定数,コア誘電定数,およびバンドギャップが,6つの光学遷移からのパラメータに沿って提示される。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *分光計 ,  *薄膜 ,  *光学定数 ,  *誘電関数 ,  バンドギャップ ,  誘電率 ,  モルフォロジー ,  ポリアセン
準シソーラス用語： 分光器 ,  Lorentz数 ,  誘電定数 ,  形態学

分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (1件)： ペンタセン

タイトルに関連する用語 (5件)： 分光器 ,  測定法 ,  ペンタセン ,  薄膜 ,  光学定数