特許
J-GLOBAL ID：201003001310611282
磁気共鳴診断装置および磁気共鳴診断方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (21件)：
鈴江 武彦
, 蔵田 昌俊
, 河野 哲
, 中村 誠
, 福原 淑弘
, 峰 隆司
, 白根 俊郎
, 村松 貞男
, 野河 信久
, 幸長 保次郎
, 河野 直樹
, 砂川 克
, 風間 鉄也
, 勝村 紘
, 河井 将次
, 佐藤 立志
, 岡田 貴志
, 堀内 美保子
, 竹内 将訓
, 市原 卓三
, 山下 元
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-167866
公開番号（公開出願番号）：特開2010-099455
出願日： 2009年07月16日
公開日（公表日）： 2010年05月06日
要約：
【課題】最大傾斜磁場強度およびMPGパルスの印加時間に見合うよりも大きなb値を用いた拡散強調画像を得ることを可能とする。【解決手段】ホスト計算機16は、それぞれ異なる少なくとも2つのb値をそれぞれ用いて同一の被検体の同一の撮像領域を撮像して得られた少なくとも2つの元画像における着目領域内に含まれる画素位置のそれぞれについて、当該画素位置についての少なくとも2つの前記元画像におけるそれぞれの画素値に基づいて当該画素位置に関する見かけの拡散係数を導出する。またホスト計算機16は、前記着目領域内に含まれる画素位置のそれぞれについて、各画素位置について導出された前記見かけの拡散係数に基づいて、前記少なくとも2つのb値とは異なるb値を用いて得られる画素値を推定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
それぞれ異なる少なくとも2つのb値をそれぞれ用いて同一の被検体の同一の撮像領域を撮像して得られた少なくとも2つの元画像における着目領域内に含まれる画素位置のそれぞれについて、当該画素位置についての少なくとも2つの前記元画像におけるそれぞれの画素値に基づいて当該画素位置に関する見かけの拡散係数を導出する導出手段と、
前記着目領域内に含まれる画素位置のそれぞれについて、各画素位置について導出された前記見かけの拡散係数に基づいて、前記少なくとも2つのb値とは異なるb値を用いて得られる画素値を推定する推定手段とを具備したことを特徴とする磁気共鳴診断装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B5/05 382
, G01N24/08 510Y
4C096AA17
, 4C096AA18
, 4C096AB07
, 4C096AB41
, 4C096AD06
, 4C096AD12
, 4C096AD13
, 4C096AD14
, 4C096BA03
, 4C096BA05
, 4C096BA41
, 4C096BA42
, 4C096BA50
, 4C096DA18
, 4C096DB09
, 4C096DC22
, 4C096DC25
, 4C096DC28
, 4C096DC33
