特許
J-GLOBAL ID:201003005253053036
充電深度計測機構及び計測方法、並びに該計測機構を備える二次電池
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
星野 哲郎
, 山下 昭彦
, 岸本 達人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-194561
公開番号(公開出願番号):特開2010-032349
出願日: 2008年07月29日
公開日(公表日): 2010年02月12日
要約:
【課題】簡易な構成で二次電池の充電深度を精度良く計測可能な、充電深度計測機構、計測方法、及び当該計測機構を備える二次電池を提供する。【解決手段】 正極及び負極を備える二次電池の充電深度を計測する機構であって、二次電池の充電又は放電時における、正極及び負極のうち少なくとも一方の膨張又は収縮に起因して二次電池内部に生じる歪みの大きさを測定する、歪み測定手段と、歪み測定手段により測定された歪みの大きさに基づいて、二次電池の充電深度を特定する、充電深度特定手段と、を備えることを特徴とする、充電深度計測機構とする。【選択図】図2
請求項(抜粋):
正極及び負極を備える二次電池の充電深度を計測する機構であって、
前記二次電池の充電又は放電時における、前記正極及び負極のうち少なくとも一方の膨張又は収縮に起因して前記二次電池内部に生じる歪みの大きさを測定する、歪み測定手段と、
前記歪み測定手段により測定された前記歪みの大きさに基づいて、前記二次電池の充電深度を特定する、充電深度特定手段と、
を備えることを特徴とする、二次電池の充電深度計測機構。
IPC (3件):
G01R 31/36
, H01M 10/48
, H01M 10/04
FI (4件):
G01R31/36 A
, H01M10/48 P
, H01M10/48 A
, H01M10/04 Z
Fターム (19件):
2G016CA03
, 2G016CB03
, 5H028AA10
, 5H028BB11
, 5H029AJ12
, 5H029AK03
, 5H029AL03
, 5H029AL06
, 5H029AL12
, 5H029AM12
, 5H029AM16
, 5H029BJ21
, 5H029HJ03
, 5H029HJ16
, 5H030AA10
, 5H030AS08
, 5H030AS11
, 5H030FF41
, 5H030FF51
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (2件)
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