特許

J-GLOBAL ID：201003006786989650

X線検査装置

発明者： 廣瀬 修
出願人/特許権者： 株式会社イシダ
代理人 (1件)： 特許業務法人ワンディーIPパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-281914
公開番号（公開出願番号）：特開2010-107456
出願日： 2008年10月31日
公開日（公表日）： 2010年05月13日
要約：

【課題】物品サイズ等に関してオペレータによる設定値の入力作業が不要であり、しかも、どのような向きで物品がX線検査装置に供給された場合であっても、封止部分への内容物の噛み込みを正確に判定することが可能な、X線検査装置を得る。【解決手段】2値化画像作成部94は、シール部分31の輝度レベルよりも低い輝度値を第1のしきい値TH1としてX線透過画像を2値化することにより、第1の2値化画像(画像データS13A)を作成し、第1のしきい値TH1よりも低く、チーズ30の部分の輝度レベルよりも高い輝度値を第2のしきい値TH2としてX線透過画像を2値化することにより、第2の2値化画像(画像データS13B)を作成し、噛み込み判定部95は、第1の2値化画像と第2の2値化画像とに基づいて、シール部分31へのチーズ30の噛み込みを判定する。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

内容物がパッケージ内に封入された物品を検査するX線検査装置であって、 物品にX線を照射する照射手段と、 物品を透過したX線を検出する検出手段と、 前記検出手段の検出結果に基づいてX線透過画像を作成する透過画像作成手段と、 前記X線透過画像に基づいて2値化画像を作成する2値化画像作成手段と、 前記2値化画像に基づいて、パッケージの封止部分への内容物の噛み込みを判定する判定手段と を備え、 前記2値化画像作成手段は、 封止部分の輝度レベルよりも低い輝度値を第1のしきい値として前記X線透過画像を2値化することにより、第1の2値化画像を作成し、 前記第1のしきい値よりも低く、内容物の輝度レベルよりも高い輝度値を第2のしきい値として前記X線透過画像を2値化することにより、第2の2値化画像を作成し、 前記判定手段は、 前記第1の2値化画像と前記第2の2値化画像との差分画像を作成し、 前記差分画像から所定幅以下の線を削除し、 その線の削除後に前記差分画像に残っている領域を、内容物の噛み込み領域と判定する、X線検査装置。

IPC (1件)：

G01N 23/04

FI (1件)：

G01N23/04

Fターム (19件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001GA06 ,  2G001GA07 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001KA05 ,  2G001KA20 ,  2G001LA01 ,  2G001MA10 ,  2G001PA03 ,  2G001PA06 ,  2G001PA11

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-321548   出願人：アンリツ産機システム株式会社