特許

J-GLOBAL ID：201003009178993384

二次電池用電極群の検査方法

発明者： 藤原 勲 ,  住原 正則
出願人/特許権者： パナソニック株式会社
代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-194478
公開番号（公開出願番号）：特開2010-032346
出願日： 2008年07月29日
公開日（公表日）： 2010年02月12日
要約：

【課題】正極板および負極板をセパレータを介して巻回してなる電極群に混入した異物やセパレータの欠陥などによる内部短絡につながる欠陥を確実に検出することができ、且つ、セパレータのダメージを最小限にとどめることの可能な二次電池用電極群を検査する安全性に優れた方法を提供することを目的とする。【解決手段】正極板4および負極板8をセパレータ2を介して巻回してなる二次電池用電極群13を不活性ガス中に設置し、正極板4と負極板8からなる一対の電極板の間に検査用電圧を印加しながら、その電圧の印加に伴って流れる電流を測定し、予め設定した電流と比較して、二次電池用電極群13の内部短絡につながる欠陥を判定する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

正極板と負極板からなる一対の電極板とこの一対の電極板の間に配置されたセパレータとを含む二次電池用電極群の検査方法であって、前記電極群を不活性ガス雰囲気中に設置し、前記一対の電極板の間に検査用電圧を印加しながら前記検査用電圧の印加に伴って流れる電流を測定し、予め設定した電流と比較して電極群の内部短絡につながる欠陥の判定をすることを特徴とする二次電池用電極群の検査方法。

IPC (3件)：

G01R 31/00 ,  H01M 10/48 ,  H01M 10/04

FI (3件)：

G01R31/00 ,  H01M10/48 P ,  H01M10/04 Z

Fターム (32件)：

2G016CA07 ,  2G016CB05 ,  2G036AA19 ,  2G036AA27 ,  2G036BA37 ,  2G036BB04 ,  2G036BB08 ,  2G036CA01 ,  5H028AA05 ,  5H028BB10 ,  5H028BB12 ,  5H028BB15 ,  5H028HH09 ,  5H029AJ12 ,  5H029AJ14 ,  5H029AK03 ,  5H029AL07 ,  5H029AL11 ,  5H029AM03 ,  5H029AM04 ,  5H029AM07 ,  5H029BJ03 ,  5H029BJ14 ,  5H029CJ11 ,  5H029CJ16 ,  5H029CJ28 ,  5H029HJ15 ,  5H030AA06 ,  5H030AS11 ,  5H030FF41 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 二次電池の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-371538   出願人：三洋電機株式会社
• 電極体検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-060498   出願人：ソニー株式会社