特許
J-GLOBAL ID:201003012795596059

半導体レーザ素子の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 新樹グローバル・アイピー特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-039372
公開番号(公開出願番号):特開2010-199139
出願日: 2009年02月23日
公開日(公表日): 2010年09月09日
要約:
【課題】歩留まりを改善し、安定した品質のレーザ素子を効率的に製造することができる窒化物半導体レーザ素子の製造方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の窒化物半導体レーザ素子の製造方法は、基板上に、積層半導体を有する半導体レーザ素子の製造方法であって、前記基板上に積層半導体を形成する工程と、前記積層半導体の表面におけるレーザ素子形成領域の共振器方向に、該共振器の端面側から第1領域と、該第1領域よりも深さが深い第2領域と、前記第1領域よりも深さが浅い第3領域と、を順に有する補助溝を形成する工程と、前記補助溝を利用して基板及び積層半導体を分割する工程と、を備える。【選択図】図1-2
請求項(抜粋):
基板上に、積層半導体を有する半導体レーザ素子の製造方法であって、 前記基板上に積層半導体を形成する工程と、 前記積層半導体の表面におけるレーザ素子形成領域の共振器方向に、該共振器の端面側から第1領域と、該第1領域よりも深さが深い第2領域と、前記第1領域よりも深さが浅い第3領域と、を順に有する補助溝を形成する工程と、 前記補助溝を利用して基板及び積層半導体を分割する工程と、を備える半導体レーザ素子の製造方法。
IPC (2件):
H01S 5/343 ,  H01S 5/22
FI (2件):
H01S5/343 610 ,  H01S5/22
Fターム (17件):
5F173AA08 ,  5F173AH22 ,  5F173AL03 ,  5F173AL05 ,  5F173AL13 ,  5F173AL14 ,  5F173AP05 ,  5F173AP19 ,  5F173AP24 ,  5F173AP33 ,  5F173AP62 ,  5F173AP83 ,  5F173AP93 ,  5F173AQ04 ,  5F173AQ10 ,  5F173AR91 ,  5F173AR99
引用特許:
審査官引用 (2件)

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