特許
J-GLOBAL ID：201003020528520739
測距装置および測距方法並びにプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
, 福尾 勲将
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-266087
公開番号（公開出願番号）：特開2010-096568
出願日： 2008年10月15日
公開日（公表日）： 2010年04月30日
要約：
【課題】位相シフト法を用いて測距を行う際に、誤測距を防止する。【解決手段】照射部16が、強度が周期的に変化する縞パターン光を、パターンの位相をπ/2ずつ移動させつつ被写体に照射する。撮像部2が縞パターン光の移動の周期における0、π/2、π、3π/2の4つの位相において反射光を受光して受光信号F1,F2,F3,F4を得る。距離画像生成部31が、第1の加算信号(F1+F3)と第2の加算信号(F2+F4)との差分値の絶対値を算出し、絶対値をしきい値Th1と比較し、絶対値がしきい値Th1未満となる受光信号を取得した受光素子においてのみ距離情報D1を算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
強度が周期的に変化する縞パターン光を、パターンの位相を移動させつつ被写体に照射する照射手段と、
前記被写体による前記縞パターン光の反射光を受光し、受光光量に応じた受光信号を出力する複数の受光素子が2次元状に配列された撮像素子を有する撮像手段と、
前記縞パターン光の位相が該縞パターンの1周期分移動するまで、該縞パターン光のパターンの位相を基準位相からπ/2ずつずらして前記被写体に該縞パターンを照射し、前記基準位相、該基準位相からπ/2ずれた位相、該基準位相からπずれた位相および該基準位相から3π/2ずれた位相のそれぞれにおいて前記反射光を受光するよう、前記照射手段および前記撮像手段を制御する撮像制御手段と、
前記縞パターン光の位相の前記1周期分の移動に対応して、前記受光素子毎に取得される4つの位相の受光信号から、前記縞パターン光と該縞パターン光の反射光との位相差を前記受光素子毎に算出し、該位相差に基づいて前記被写体までの距離を表す距離情報を前記受光素子毎に算出する距離情報算出手段とを備え、
前記距離情報算出手段は、前記4つの位相の受光信号のうち、前記基準位相の受光信号と該基準位相からπずれた位相の受光信号との加算信号である第1の加算信号、および前記基準位相からπ/2ずれた位相の受光信号と該基準位相から3π/2ずれた位相の受光信号との加算信号である第2の加算信号の差分値の絶対値を算出し、該絶対値が所定のしきい値未満となった前記受光素子においてのみ、前記距離情報を算出する手段であることを特徴とする測距装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01C3/06 120Z
, G01C3/06 140
2F112AA09
, 2F112BA01
, 2F112CA12
, 2F112DA04
, 2F112DA13
, 2F112DA19
, 2F112DA26
, 2F112DA40
, 2F112EA07
, 2F112FA03
, 2F112FA07
, 2F112FA08
, 2F112FA21
, 2F112FA31
, 2F112FA35
, 2F112FA45
, 2F112GA01
