特許
J-GLOBAL ID：200903082678237231

3次元計測方法及び装置

発明者：
劉 剛

劉 剛 について


出願人/特許権者：
オリンパス株式会社

オリンパス株式会社 について


代理人 (1件)： 大菅 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-201181
公開番号（公開出願番号）：特開2006-023178
出願日： 2004年07月07日
公開日（公表日）： 2006年01月26日
要約：
【課題】 計測精度が向上された3次元計測方法及びその装置を提供する。【解決手段】 3次元計測装置システムの画像処理装置4に、位相値信頼性判定部43を設ける。位相値信頼性判定部43は、輝度飽和領域、コントラスト低下領域、コントラスト低下領域の境界領域、位相エラー領域を抽出する。位相値の計測値が信頼できない、これらの領域においては、別途再測定を行うなどして、信頼性の高い位相値を計測し、全体として、精度の高い3次元計測を行う。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
格子パターンを複数回シフトして計測対象物に照射し、照射された格子パターンの画像をシフトする毎に撮像し、該画像を用いて3次元形状を計測する、位相シフト法を用いた3次元計測方法において、 該画像の各画素の位相値と振幅値を算出するステップと、 該算出された位相値では、正確に形状を計測できない部分を分類して抽出するステップと、 該抽出された結果に基づき、各画素の位相値の信頼性を判定するステップと、 該判定結果を用いて、該計測対象物の形状算出及び結果表示を行うステップと、 を備えることを特徴とする3次元計測方法。
IPC (2件)：
G01B 11/25 ,  G01B 11/24
FI (2件)：
G01B11/24 E ,  G01B11/24 K
Fターム (10件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD08 ,  2F065FF07 ,  2F065HH01 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ19 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 物体の三次元形状計測方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-192452   出願人：富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
審査官引用 (4件)
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