特許
J-GLOBAL ID：201003028256904657
工場診断方法、工場診断装置及び工場診断プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
日向寺 雅彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-179553
公開番号（公開出願番号）：特開2010-020495
出願日： 2008年07月09日
公開日（公表日）： 2010年01月28日
要約：
【課題】製造部門と関連部門との部門間連携に関する診断を可能とし、より適切で高精度の診断を実現する工場診断方法、工場診断装置及び工場診断プログラムを提供する。【解決手段】工場診断の対象とされる製造部門以外の関連部門のうち、前記工場診断の診断項目に関係すると推定される関連部門を、入力することを促す、または、選択するステップと、前記入力または選択された関連部門の評価結果に基づいて、前記製造部門と前記関連部門との部門間連携を解析するステップと、をコンピュータに実行させることを特徴とする工場診断方法を提供する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
工場診断の対象とされる製造部門以外の関連部門のうち、前記工場診断の診断項目に関係すると推定される関連部門を、入力することを促す、または、選択するステップと、
前記入力または選択された関連部門の評価結果に基づいて、前記製造部門と前記関連部門との部門間連携を解析するステップと、
をコンピュータに実行させることを特徴とする工場診断方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G05B19/418 Z
, G06F17/60 174
