特許

J-GLOBAL ID：201003028851842320

リアルタイム溶接品質判定装置及び判定方法

発明者： 小溝 裕一 ,  寺崎 秀紀
出願人/特許権者： 国立大学法人大阪大学
代理人 (2件)： 上代 哲司 ,  神野 直美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-060771
公開番号（公開出願番号）：特開2010-214380
出願日： 2009年03月13日
公開日（公表日）： 2010年09月30日
要約：

【課題】溶接中に欠陥が発生すればリアルタイムで欠陥の発生を発見する等、溶接中にリアルタイムで品質を判定することが可能な技術を提供する。【解決手段】溶接中に溶接箇所の溶接エネルギーに関係する物理量を測定し、該物理量を連続溶接であれば単位処理時間毎に、スポット溶接であればスポット毎に、複数種類、かつ多数のデジタル化されたサンプリングデータとし、デジタル化された各種類のサンプリングデータを当該溶接の種類、条件に応じて正規化を含む手順で1次元データとし、各種類の1次元データからなる多次元のサンプリングデータを次元縮退を含む手順で1次元のサンプリングベクトルとし、1次元のサンプリングベクトルを評価基準となるベクトルと比較し、当該単位処理時間あるいは当該スポットの溶接の品質を判定するリアルタイム溶接品質判定装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

溶接中に溶接箇所の溶接エネルギーに関係する物理量を測定する物理量測定部と、 前記物理量測定部が測定した物理量を、連続溶接であれば単位処理時間毎に、スポット溶接であればスポット毎に、リアルタイムかつ所定の手順で、複数種類かつ多数のデジタル化されたサンプリングデータとする物理量デジタル化部と、 前記デジタル化された各種類のサンプリングデータを、当該溶接の種類、条件に応じてリアルタイムかつ正規化を含む所定の手順で、1次元データとするサンプリングデータ1次元化部と、 前記サンプリングデータ1次元化部により1次元データとされた前記各種類のサンプリングデータからなる多次元のサンプリングデータを、リアルタイムかつ次元縮退を含む所定の手順で1次元のサンプリングベクトルとして表現するベクトル表現部と、 前記ベクトル表現部により表現された1次元のサンプリングベクトルを評価基準となるベクトルとリアルタイムかつ所定の手順で比較し、当該単位処理時間あるいは当該スポットの溶接の品質を判定する品質判定部と、 を有していることを特徴とするリアルタイム溶接品質判定装置。

IPC (3件)：

B23K 31/00 ,  B23K 11/25 ,  B23K 26/00

FI (4件)：

B23K31/00 N ,  B23K31/00 K ,  B23K11/25 ,  B23K26/00 M

Fターム (2件)：

4E068CA17 ,  4E068CA18

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 溶接評価
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2001-545030   出願人：ザ・ユニバーシティ・オブ・シドニー
• 特開昭60-171575