特許

J-GLOBAL ID：201003029566406270

位置情報書込装置、位置情報表示装置、物品管理システム、物品管理方法及び物品管理プログラム

発明者： 川瀬 博之
出願人/特許権者： NECソフト株式会社
代理人 (1件)： 丸山 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-170244
公開番号（公開出願番号）：特開2010-006567
出願日： 2008年06月30日
公開日（公表日）： 2010年01月14日
要約：

【課題】ICタグを読み取った際に、読み取ったICタグの位置を特定できる位置情報書込装置、位置情報表示装置、物品管理システム、物品管理方法及び物品管理プログラムを提供する。【解決手段】位置情報書込システム110は、ICタグ50が添付される物品の設置位置を特定する位置情報を生成する位置情報生成装置10と、位置情報をICタグ50に記録するICタグライタ11とを有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

ICタグが添付される物品の設置位置を特定する位置情報を生成する手段と、 前記位置情報を前記ICタグに記録する書込手段とを有することを特徴とする位置情報書込装置。

IPC (3件)：

B65G 1/137 ,  B23P 21/00 ,  G06K 17/00

FI (5件)：

B65G1/137 A ,  B23P21/00 307Z ,  G06K17/00 F ,  G06K17/00 L ,  B23P21/00 307J

Fターム (13件)：

3C030DA01 ,  3C030DA02 ,  3C030DA10 ,  3F022AA05 ,  3F022MM22 ,  3F022PP04 ,  3F022QQ00 ,  5B058CA17 ,  5B058CA24 ,  5B058KA02 ,  5B058KA04 ,  5B058KA06 ,  5B058KA40

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 組付け部品確認システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-197532   出願人：本田技研工業株式会社

審査官引用 (2件)

• 不良原因特定システム、不良原因特定方法、および不良原因特定プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-011415   出願人：株式会社日立製作所
• プレカット建材管理システム、プレカット建材管理方法、梱包物管理装置、梱包物管理方法並びに梱包物管理プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-140124   出願人：大和ハウス工業株式会社