自己干渉蛍光顕微鏡検査のためのシステムと方法、及び、それに関連するコンピュータがアクセス可能な媒体

発明者： , ,
出願人/特許権者： , , ,
代理人 (2件)：正林真之 , 林一好
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-523165
公開番号（公開出願番号）：特表2010-538326
出願日： 2008年08月29日
公開日（公表日）： 2010年12月09日
要約：

一般的に、本発明に係る特定の代表的な実施の形態のシステム及び方法は、レンズによって蛍光色素分子の放射を集光し、光を平行化してビームとし、ビームの波面にわたって、複数の、区別可能な波長依存の位相遅延を与える位相素子を透過させることによって、高分解能イメージングを容易とすることができる。このビームは、続いて、プリズム、回折格子、又はその他の分散素子によって波長分散され、分光計に合焦される。例えば、ビームの個々の波長成分が分光計のある点に合焦されると、それらの波面の位相遅延された成分がお互いに干渉し合い、波長依存の、蛍光自己インターフェログラムを生成しやすくなる。この自己インターフェログラムを、フーリエ変化によって分析して、サブ回折の分解能情報を抽出することができる。サブ回折の限界情報は相対位相に含まれており、干渉の複素フーリエ成分から決定してもよい。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

試料の少なくとも一つの部分から少なくとも一つの電磁放射を取得するように構成された装置であって、該装置は、前記少なくとも一つの電磁放射を複数の第1の放射に、前記複数の第1の放射の一つが有する位相遅延が、前記複数の第1の放射の他が有する位相遅延と異なるように、分離するように構成された、少なくとも一つの第1の構成部と、前記複数の第1の放射の少なくとも一つを受けて、受けた前記複数の第1の放射の少なくとも一つを、受けた前記複数の第1の放射の少なくとも一つの波長に従って、複数の第2の放射に分離するように構成された、少なくとも一つの第2の構成部と、前記第1の構成部と前記第2の構成部の間の光路、又は、前記少なくとも一つの第2の構成部に続いて配置された、前記複数の第1の放射又は前記複数の第2の放射の少なくとも一つに空間フィルタリングを行うように構成された、少なくとも一つの第3の構成部と、を備えた装置。

IPC (2件)：

G02B 21/00 , G01N 21/64

FI (2件)：

G02B21/00 , G01N21/64 F

Fターム (22件)：

2G043AA03 , 2G043EA01 , 2G043FA01 , 2G043FA02 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA05 , 2G043HA08 , 2G043HA09 , 2G043JA04 , 2G043KA01 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2H052AA04 , 2H052AA09 , 2H052AB01 , 2H052AC26 , 2H052AD34 , 2H052AF04 , 2H052AF07 , 2H052AF14

引用特許：

審査官引用 (6件)

サイドローブが除去された共焦点自己干渉顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-169966 出願人：韓国科学技術院
蛍光分光画像計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-115689 出願人：富士写真フイルム株式会社
光波分光装置及び方法
公報種別：公表公報出願番号：特願2000-611041 出願人：キャンパステクノロジーズアーゲー

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