特許
J-GLOBAL ID:201003032657218672
光学位置測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
江崎 光史
, 鍛冶澤 實
, 清田 栄章
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-507822
公開番号(公開出願番号):特表2010-527014
出願日: 2008年05月02日
公開日(公表日): 2010年08月05日
要約:
本発明は、走査ユニットとこの走査ユニットに相対して少なくとも1つの測定方向に移動可能なスケールとの相対位置を検出するための光学位置測定装置に関する。このスケールは、組み合わせ式の構成ユニットとして形成されており、この構成ユニットは、少なくとも1つの反射素子と測定目盛とを有する。走査ユニットは分割手段を有し、この分割手段は、光源から発せられた光束を測定方向に少なくとも2つの部分光束に分割し、これらの部分光束が、この分割後、前記スケールの方向に伝播する。
請求項(抜粋):
走査ユニット(AE)とこの走査ユニットに相対して少なくとも1つの測定方向(Mr)に移動可能なスケール(Mf)との相対位置を検出するための光学位置測定装置において、
-前記スケール(Mf)が、組み合わせ式の構成ユニットとして形成されており、この構成ユニットが、少なくとも1つの反射素子(R1、R2;Pr;R)と測定目盛(Gf)とを有し、
-前記走査ユニット(AE)に、光源(LD)と1つまたは複数の検出素子(PE-1、PE0、PE+1)とが付設されており、
-前記走査ユニットが分割手段(Mm;Mm1、Mm2)を有し、この分割手段が、前記光源(LD)から発せられた光束を測定方向(Mr)に少なくとも2つの部分光束に分割し、これらの部分光束が、この分割後、前記スケール(Mf)の方向に伝播することを特徴とする光学位置測定装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (8件):
2F103CA04
, 2F103DA11
, 2F103EA01
, 2F103EA18
, 2F103EB02
, 2F103EB16
, 2F103EC01
, 2F103EC03
引用特許:
審査官引用 (1件)
-
光学式エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-176848
出願人:松下電器産業株式会社
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