特許
J-GLOBAL ID：201003039864785921
COT及びCOTの製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-254297
公開番号（公開出願番号）：特開2010-086260
出願日： 2008年09月30日
公開日（公表日）： 2010年04月15日
要約：
【課題】COTに形成されたICモジュールについての製造過程の詳細履歴や不良検査の詳細履歴の特定が容易な、COT及びCOTの製造方法を提供する。【解決手段】端子基板3とICチップを有するICモジュール2が複数個形成され、前記複数個のICモジュール2のうち不良ICモジュール2D1,2D2も含まれるCOT100(Chip On Tape)であって、前記不良ICモジュール2についての前記端子基板3上に付着された絶縁性の被覆40と、前記不良ICモジュール2D1,2D2が前記COT100に占める領域内の少なくとも一部または前記被覆40に前記不良ICモジュール2D1,2D2を特定するためのマークされた所定の識別情報50-1,50-2とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
端子基板とICチップを有するICモジュールが複数個形成され、前記複数個のICモジュールのうち不良ICモジュールも含まれるCOT(Chip On Tape)であって、
前記不良ICモジュールについての前記端子基板上に付着された絶縁性の被覆と、
前記不良ICモジュールが前記COTに占める領域内の少なくとも一部または前記被覆に前記不良ICモジュールを特定するためのマークされた所定の識別情報と
を有するCOT。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06K19/00 K
, B42D15/10 521
2C005MA21
, 2C005NA02
, 2C005NB06
, 2C005NB10
, 2C005NB15
, 2C005NB17
, 2C005PA40
, 2C005RA15
, 2C005RA16
, 2C005RA30
, 5B035BA00
, 5B035BB09
, 5B035CA01
