特許
J-GLOBAL ID：201003040609372085

コンタクトプローブおよび検査用ソケット

発明者：
中村 伸一

中村 伸一 について


出願人/特許権者：
ユニテクノ株式会社

ユニテクノ株式会社 について


代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-189631
公開番号（公開出願番号）：特開2010-025844
出願日： 2008年07月23日
公開日（公表日）： 2010年02月04日
要約：
【課題】コンタクトプローブの摺動性および電気抵抗を安定させることができるようにして、生産性を向上させることができるとともに、被検査対象物の検査を安定して行うことができるコンタクトプローブおよび検査用ソケットを提供する。【解決手段】電気的接触部18および電気的接触部と一体的に設けられたプランジャ17とを有する第1導電部材14と、電気的接触部20および電気的接触部と一体的に設けられ、プランジャが摺動自在に挿通される挿通孔19aを有するシリンダ部19と、第1導電部材および第2導電部材15の間に介装され、電気的接触部が近接するようにプランジャが挿通孔内を摺動したときに、電気的接触部を離隔する方向に付勢するコイルバネとを備え、電気的接触部をプリント配線板23の接続端子に接触させるとともに、電気的接触部を被検査対象物の接続端子に接触させるようにしたコンタクトプローブにおいて、プランジャを湾曲させる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1電気的接触部および前記第1電気的接触部と一体的に設けられた棒状の第1電気的端子部とを有する第1導電部材と、第2電気的接触部および前記第2電気的接触部と一体的に設けられ、前記第1電気的端子部が摺動自在に挿通される挿通孔を有する中空の第2電気的端子部と、前記第1導電部材および前記第2導電部材の間に介装され、前記第1電気的接触部と前記第2電気的接触部が近接するように前記第1電気的端子部が前記挿通孔内を摺動したときに、前記第1電気的接触部と前記第2電気的接触部を離隔する方向に付勢する付勢部材とを備え、 前記第1電気的接触部を被検査対象物の接続端子または検査装置の接続端子の何れか一方に接触させるとともに、前記第2電気的接触部を被検査対象物の接続端子または検査装置の接続端子の何れか他方に接触させるようにしたコンタクトプローブにおいて、 前記第1電気的端子部を湾曲または屈曲させたことを特徴とするコンタクトプローブ。
IPC (5件)：
G01R 1/073 ,  G01R 1/067 ,  G01R 31/26 ,  H01R 33/76 ,  H01R 13/24
FI (5件)：
G01R1/073 B ,  G01R1/067 C ,  G01R31/26 J ,  H01R33/76 505A ,  H01R13/24
Fターム (15件)：
2G003AG03 ,  2G003AG12 ,  2G003AG20 ,  2G003AH07 ,  2G011AA04 ,  2G011AA09 ,  2G011AA16 ,  2G011AB01 ,  2G011AB03 ,  2G011AB08 ,  2G011AC14 ,  2G011AE22 ,  2G011AF07 ,  5E024CA18 ,  5E024CB05
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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