特許
J-GLOBAL ID：201003042700258875

光画像計測装置及びその制御方法

発明者：
渋谷 雅博

渋谷 雅博 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 特許業務法人三澤特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-101176
公開番号（公開出願番号）：特開2010-249740
出願日： 2009年04月17日
公開日（公表日）： 2010年11月04日
要約：
【課題】干渉光の検出と断層画像の形成とを並行して行う光画像計測装置を提供する。【解決手段】ガルバノミラー141A、141Bの向きを変更しながら被検眼Eに対して信号光を走査させる制御部210と、干渉光を検出するOCTユニット150と、被検眼Eの断層画像を形成する画像形成部220と、形成した断層画像の画像状態を基に該断層画像の異常を検出する異常検出部250と、を備え、異常検出部250は、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に異常検出を行い、異常検出時に、制御部210はガルバノミラー141A、141Bの向きの変更を停止し、OCTユニット150は停止した向きから干渉光の検出を再度開始する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による1フレーム分の走査において得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、を備えた光画像計測装置であって、 前記形成された断層画像の画像状態を基に前記断層画像の異常を検出する異常検出手段をさらに備え、 前記断層画像形成手段は、前記干渉光検出手段による1フレーム分の前記干渉光の検出結果が得られる毎に順次断層画像を形成し、 前記異常検出手段は、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に前記異常検出を行い、 前記異常が検出されたときに、前記干渉光検出手段は、前記ガルバノミラーの向きの変更を停止し、前記停止した前記向きから前記干渉光の検出を再度開始する、 ことを特徴とする光画像計測装置。
IPC (2件)：
G01N 21/17 ,  A61B 3/12
FI (2件)：
G01N21/17 625 ,  A61B3/12 E
Fターム (15件)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04
引用特許：
審査官引用 (4件)
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