特許
J-GLOBAL ID：201003044311054884
撮像装置、ぶれ修復方法及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-122234
公開番号（公開出願番号）：特開2010-273032
出願日： 2009年05月20日
公開日（公表日）： 2010年12月02日
要約：
【課題】確実に周期性のないシャッターの開口パターンを低コストで取得できるようにする。【解決手段】複数の周期性のない開口パターンをリストとして開口パターン保持手段によって保持しておき、その中から開口パターンを一つ選択することによって、撮影に使用するシャッターの開口パターンを決定する。ぶれ修復回路428は、指定された露光時間の間にシャッターの開閉を不規則に行い、得られた画像とシャッターの開口パターンの相関を用いてぶれを修復する符号化開口処理を行う。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
ぶれ検出手段を備えた撮像装置であって、
周期性のないシャッターの開口パターンを保持する開口パターン保持手段と、
前記開口パターン保持手段によって保持された開口パターンから開口パターンを決定する開口パターン決定手段と、
前記開口パターン決定手段によって決定された開口パターンを使用して撮影を行う撮影手段と、
前記ぶれ検出手段によって検出されたぶれ情報と、開口パターンから得られる点像関数の逆フィルタを撮影画像に適用することでぶれ修復した画像を得るぶれ修復正手段とを備えることを特徴とする撮像装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
5C122DA04
, 5C122EA41
, 5C122FA08
, 5C122FF10
, 5C122FH00
, 5C122FK12
, 5C122HA88
, 5C122HB01
, 5C122HB02
, 5C122HB05
, 5C122HB09
