特許
J-GLOBAL ID:201003060145357011

電子部品装置のエアリーク検査方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 寿一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-307882
公開番号(公開出願番号):特開2010-135429
出願日: 2008年12月02日
公開日(公表日): 2010年06月17日
要約:
【課題】従来のエアリーク検査装置では、密閉ケースの内部と外部とを連通する開口部に設けられるフィルタの特性の良否判定を行うことができなかったので、電子部品装置の検査工程が煩雑となっていた。【解決手段】電子部品が実装された回路基板20を収納する密閉ケース10に、該密閉ケース10の内部空間1aの内部と外部とを連通する呼吸孔12eを形成し、前記呼吸孔12eを液体は遮断し気体は通過可能とするフィルタ16にて閉塞して構成した電子部品装置1のエアリーク検査方法であって、前記呼吸孔12eにおける前記フィルタ16よりも外部側に圧力センサ58を設け、前記内部空間1a内に検査用エアを圧送し、前記検査用エアを圧送したときの前記内部空間1a内の圧力変化を、前記圧力センサ58によりモニターして、電子部品装置1のエアリーク検査とともに、前記フィルタ16の特性の良否判定を行う。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
電子部品が実装された回路基板を収納する密閉ケースに、該密閉ケースの内部と外部とを連通する開口部を形成し、前記開口部を液体は遮断し気体は通過可能とするフィルタにて閉塞して構成した電子部品装置のエアリーク検査方法であって、 前記開口部における前記フィルタよりも外部側に圧力センサを設け、 前記密閉ケース内に検査用エアを圧送し、 前記検査用エアを圧送したときの前記密閉ケース内の圧力変化を、前記圧力センサによりモニターして、 電子部品装置のエアリーク検査とともに、前記フィルタの特性の良否判定を行う、 ことを特徴とする電子部品装置のエアリーク検査方法。
IPC (1件):
H05K 5/06
FI (1件):
H05K5/06 E
Fターム (12件):
4E360AB34 ,  4E360CA01 ,  4E360EA12 ,  4E360EA18 ,  4E360EA27 ,  4E360FA02 ,  4E360FA08 ,  4E360FA17 ,  4E360GA23 ,  4E360GA29 ,  4E360GB91 ,  4E360GC20
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特許3763354号公報
審査官引用 (1件)
  • 容器検査方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-162501   出願人:株式会社デンソー

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