位相制御開閉装置および位相制御開閉装置における開閉極制御方法

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：酒井宏明
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2007058624
公開番号（公開出願番号）：WO2008-136071
出願日： 2007年04月20日
公開日（公表日）： 2008年11月13日
要約：

遮断器などの電力用開閉機器を介して電力系統に接続された変圧器における過渡的な励磁突入電流の発生を抑制すること。残留磁束演算処理部50aは、各相ごとの変圧器電圧変化率を検出する電圧変化率検出部52aと、遮断器の開閉状態を検出する遮断器開閉状態識別部51と、変圧器30に残留する残留磁束を検出する残留磁束検出部53とを備える。残留磁束検出部53は、遮断器10が開極状態にあると識別された期間に、検出された変圧器電圧変化率に基づいて残留磁束を再計算する否かを判定し、残留磁束の再計算が必要と判定したときには、残留磁束の再計算を行うとともに、再計算を行った残留磁束を新たな残留磁束として設定する。

請求項（抜粋）：

電力系統と変圧器との間に接続され、該変圧器の遮断および励磁を行うために開閉制御される遮断器と、前記遮断器と前記変圧器との間の各相電圧を計測する電圧計測部と、前記電圧計測部が計測した変圧器電圧に基づいて前記変圧器に残留する残留磁束を検出する残留磁束検出部を含む残留磁束演算処理部と、前記残留磁束検出部が検出した残留磁束に基づいて前記遮断器の開閉タイミングを制御する制御部と、を備えた位相制御開閉装置において、前記残留磁束演算処理部は、前記電圧計測部によって計測された各相電圧を時間微分して得られる各相ごとの変圧器電圧変化率を検出する電圧変化率検出部と、前記遮断器の開閉状態を検出する遮断器開閉状態識別部と、を備え、前記残留磁束検出部は、前記遮断器開閉状態識別部によって前記遮断器が開極状態であると識別されている期間に、前記電圧変化率検出部が検出した変圧器電圧変化率に基づいて前記残留磁束を再計算する否かを判定し、再計算を行ったときの残留磁束を新たな残留磁束として設定することを特徴とする位相制御開閉装置。

IPC (7件)：

H01H 33/59 , H02H 7/045 , H02H 7/04 , H02H 3/02 , H01H 9/54 , H01H 9/56 , G01R 33/02

FI (7件)：

H01H33/59 H , H02H7/045 A , H02H7/04 A , H02H3/02 N , H01H9/54 F , H01H9/56 , G01R33/02 B

Fターム (13件)：

2G017AA05 , 2G017AD04 , 2G017BA15 , 2G017CA05 , 5G028AA06 , 5G028FB01 , 5G028FD04 , 5G034AA05 , 5G034AC03 , 5G034AE10 , 5G043BA07 , 5G043BC03 , 5G043CB01

引用特許：

出願人引用 (2件)

位相制御開閉装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-166190 出願人：三菱電機株式会社
位相制御開閉装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-005923 出願人：ティーエム・ティーアンドディー株式会社

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