特許
J-GLOBAL ID：201003062266487390
立体配座解析装置及び解析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西澤 利夫
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2008051673
公開番号（公開出願番号）：WO2008-117570
出願日： 2008年02月01日
公開日（公表日）： 2008年10月02日
要約：
立体配座の微妙な構造の違いがある場合にも区別することができ、任意の分子を統一的に扱うことができ、大規模な電算機処理を可能とすることができる、以下の立体配座解析技術を提供する。 処理部が、解析対象化合物の化学構造式の入力を受け付け、入力を受け付けた化学構造式に基づき各々の化学結合部位に二面角を表す予め定めた符号を付し、一つの立体配座表記で立体配座を一義的に決定できる構造について、注目する符号化立体配座の表記を抽出するとともに、抽出した符号化立体配座表記を記憶部に記憶させる。そして処理部が、抽出した符号化立体配座の表記に基づいて分子モデルを作成し、作成した分子モデルの構造最適化及び振動数計算を行い、最適化構造とその最適化構造の物性値を求め、記憶部から前記符号化立体配座表記を取り出し、それに基づいて相同性の解析を行う。
請求項（抜粋）：
処理部が、解析対象化合物の化学構造式の入力を受け付け、
前記処理部が、入力を受け付けた化学構造式に基づき各々の化学結合部位に二面角を表す予め定めた符号を付し、一つの立体配座表記で立体配座を一義的に決定できる構造について、注目する符号化立体配座の表記を抽出するとともに、抽出した符号化立体配座表記を記憶部に記憶させ、
前記処理部が、抽出した符号化立体配座の表記に基づいて分子モデルを作成し、
前記処理部が、作成した分子モデルの構造最適化及び振動数計算を行い、最適化構造とその最適化構造の物性値を求め、
前記処理部が、前記記憶部から前記符号化立体配座表記を取り出し、それに基づいて相同性の解析を行うことを特徴とする立体配座解析方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (5件)：
2G059AA02
, 2G059BB04
, 2G059EE12
, 2G059HH01
, 4H006AA05
