特許
J-GLOBAL ID：201003065538682366

焦点検出装置及びその制御方法

発明者：
木村 正史

木村 正史 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-315027
公開番号（公開出願番号）：特開2010-139665
出願日： 2008年12月10日
公開日（公表日）： 2010年06月24日
要約：
【課題】欠陥画素を有する場合であっても合焦時の精度が低減することを防止可能とする。【解決手段】カメラ1は、複数の第1の焦点検出用画素と複数の第2の焦点検出用画素から構成され、第1の焦点検出用画素と第2の焦点検出用画素とが構成する焦点検出用画素対を複数有する焦点検出センサを有し、その欠陥画素を示す欠陥情報を記憶する。カメラ1は、欠陥情報が示す欠陥画素の値と、欠陥画素と焦点検出用画素対を構成する第1の焦点検出用画素又は第2の焦点検出用画素の値とを、欠陥画素でない同種の焦点検出用画素の値に基づいて補間する。カメラ1は、補間後の第1の焦点検出用画素から得られる第1の焦点検出像と、第2の焦点検出用画素から得られる第2の焦点検出像との位相差から、焦点状態を検出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
撮像光学系による結像面の焦点状態を検出する焦点検出装置において、 複数の第1の焦点検出用画素と複数の第2の焦点検出用画素から構成され、前記第1の焦点検出用画素と前記第2の焦点検出用画素とが構成する焦点検出用画素対を複数有する焦点検出センサと、 前記焦点検出センサの欠陥画素を示す欠陥情報を記憶する欠陥記憶手段と、 前記欠陥情報が示す欠陥画素の値と、当該欠陥画素と前記焦点検出用画素対を構成する前記第1の焦点検出用画素又は前記第2の焦点検出用画素の値とを、前記欠陥画素でない同種の焦点検出用画素の値に基づいて補間する補間手段と、 前記補間手段による補間後の前記複数の焦点検出用画素対の前記第1の焦点検出用画素から得られる第1の焦点検出像と、前記第2の焦点検出用画素から得られる第2の焦点検出像との位相差から、前記焦点状態を検出する検出手段と、 を備えることを特徴とする焦点検出装置。
IPC (4件)：
G02B 7/28 ,  G03B 13/36 ,  G02B 7/34 ,  H04N 5/232
FI (4件)：
G02B7/11 N ,  G03B3/00 A ,  G02B7/11 C ,  H04N5/232 H
Fターム (24件)：
2H011BA23 ,  2H011BB02 ,  2H011BB03 ,  2H051BA06 ,  2H051BA17 ,  2H051CB17 ,  2H051CB21 ,  2H051CD01 ,  2H051CD30 ,  2H151BA06 ,  2H151BA17 ,  2H151CB17 ,  2H151CB21 ,  2H151CD01 ,  2H151CD30 ,  5C122DA04 ,  5C122EA06 ,  5C122FC01 ,  5C122FC02 ,  5C122FD01 ,  5C122FD07 ,  5C122HA65 ,  5C122HA88 ,  5C122HB01
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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