特許
J-GLOBAL ID：201003081854066532

焦点検出装置および撮像装置

発明者：
日下 洋介

日下 洋介 について


出願人/特許権者：
株式会社ニコン

株式会社ニコン について


代理人 (2件)： 永井 冬紀 ,  渡辺 隆男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-262735
公開番号（公開出願番号）：特開2010-091848
出願日： 2008年10月09日
公開日（公表日）： 2010年04月22日
要約：
【課題】欠陥焦点検出画素を含む撮像素子による焦点検出を可能にする。【解決手段】撮像画素と焦点検出画素とが二次元状に配列された撮像素子であって、複数の焦点検出画素の配列により結像光学系を通過する一対の光束が形成する一対の像に対応した一対の像信号を生成する撮像素子に対して、複数の焦点検出画素の中に欠陥焦点検出画素A0xがある場合に、欠陥焦点検出画素A0xの周囲の画素の出力信号に基づいて欠陥焦点検出画素A0xの出力信号を補間により演算するとともに、焦点検出画素の出力信号と補間手段により演算された欠陥焦点検出画素A0xの出力信号とにより生成される一対の像信号に基づいて、一対の像の相対的なズレ量を検出し、検出された一対の像のズレ量に基づいて結像光学系の焦点調節状態を演算する。【選択図】図14
請求項（抜粋）：
撮像画素と焦点検出画素とが二次元状に配列された撮像素子であって、複数の前記焦点検出画素の配列により結像光学系を通過する一対の光束が形成する一対の像に対応した一対の像信号を生成する撮像素子と、 前記複数の焦点検出画素の中に欠陥焦点検出画素がある場合に、前記欠陥焦点検出画素の周囲の画素の出力信号に基づいて前記欠陥焦点検出画素の出力信号を補間により演算する補間手段と、 前記焦点検出画素の出力信号と前記補間手段により演算された前記欠陥焦点検出画素の出力信号とにより生成される一対の像信号に基づいて、前記一対の像の相対的なズレ量を検出する検出手段と、 前記検出手段により検出された前記一対の像のズレ量に基づいて、前記結像光学系の焦点調節状態を演算する演算手段とを備えることを特徴とする焦点検出装置。
IPC (4件)：
G02B 7/34 ,  G03B 13/36 ,  H04N 5/232 ,  H04N 5/335
FI (4件)：
G02B7/11 C ,  G03B3/00 A ,  H04N5/232 H ,  H04N5/335 P
Fターム (33件)：
2H011BA23 ,  2H011BB02 ,  2H051BA06 ,  2H051BA17 ,  2H051CB09 ,  2H051CB22 ,  2H051CE18 ,  2H151BA06 ,  2H151BA17 ,  2H151CB09 ,  2H151CB22 ,  2H151CE24 ,  5C024AX01 ,  5C024BX01 ,  5C024CX23 ,  5C024DX01 ,  5C024EX43 ,  5C024EX52 ,  5C024HX14 ,  5C122DA04 ,  5C122EA12 ,  5C122EA14 ,  5C122EA55 ,  5C122FB04 ,  5C122FB05 ,  5C122FB16 ,  5C122FC02 ,  5C122FD07 ,  5C122GA34 ,  5C122HA42 ,  5C122HA88 ,  5C122HB01 ,  5C122HB06
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (8件)
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