3次元形状測定装置および3次元形状測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人プロスペック特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-212162
公開番号（公開出願番号）：特開2010-048629
出願日： 2008年08月20日
公開日（公表日）： 2010年03月04日
要約：

【課題】受光器や受光器が出力する信号を処理する回路の数の増加をせずに、2次反射による反射光の影響を除外することができる3次元形状測定装置を提供すること。【解決手段】異なった照射角度で2回の測定が行われ、そのときの反射光は同一の受光器に受光される。1回目の測定により求められた第一形状データに属する座標値が対象座標値とされ、2回目の測定により求められた第二形状データに属する座標値が比較座標値とされる。全ての対象座標値のそれぞれについて、その対象座標値により表される点を中心とした所定空間範囲内に存在する座標点を表す比較座標値の数Cがカウントされる。CがM以下であれば、その対象座標値が除外される。除外されなかった対象座標値が正規の座標値として抽出される。抽出された座標値を用いて精度の良好な3次元画像が生成される。【選択図】図15

請求項（抜粋）：

レーザー光を出射するレーザー光源と、前記レーザー光源から出射されたレーザー光が測定対象物に照射されたときにその照射点にて発生する散乱光の一部である反射光を受光し、受光した反射光の強度に応じた受光信号を出力する一つの受光手段と、を備える3次元測定カメラと、レーザー光が測定対象物の計測領域の全体に照射されるように、測定対象物へのレーザー光の照射点を移動させるレーザー光移動手段と、前記レーザー光移動手段により移動されるレーザー光の照射点の移動位置に関する情報を検出する移動位置情報検出手段と、測定対象物の同一部位にレーザー光を照射した場合に異なった照射角度でレーザー光が照射されるように、測定対象物に対する前記3次元測定カメラの配置状態を第一の配置状態と第二の配置状態に切り換える配置状態切り換え手段と、前記3次元測定カメラの配置状態が前記第一の配置状態であるときに前記レーザー光移動手段によってレーザー光が測定対象物の計測領域の全体に照射された場合に、前記受光信号が得られる照射点である各測定点について、前記受光信号に基づいて計算される照射間距離および前記移動位置情報検出手段により検出される前記測定点の移動位置に関する情報に基づき座標値を計算することにより、測定対象物表面の座標値を含む座標値の集合である第一形状データを生成する第一形状データ生成手段と、前記3次元測定カメラの配置状態が前記第二の配置状態であるときに前記レーザー光移動手段によってレーザー光が測定対象物の計測領域の全体に照射された場合に、前記受光信号が得られる各測定点について、前記受光信号に基づいて計算される照射間距離および前記移動位置情報検出手段により検出される移動位置に関する情報に基づき座標値を計算することにより、測定対象物表面の座標値を含む座標値の集合である第二形状データを生成する第二形状データ生成手段と、前記第一形状データ生成手段により生成された第一形状データに属する座標値と、前記第二形状データ生成手段により生成された第二形状データに属する座標値とを、統一座標系における座標値に変換する座標変換手段と、前記統一座標系により表された前記第一形状データに属する各座標値をそれぞれ対象座標値とし、前記統一座標系により表された前記第二形状データに属する各座標値をそれぞれ比較座標値とし、それぞれの前記対象座標値について、その対象座標値により表される座標点を中心として設定された空間範囲内に存在する座標点を表す前記比較座標値の数が予め設定された数以下である場合に、その対象座標値を除外することによって、除外されなかった対象座標値を抽出する第一座標値抽出手段と、前記第一座標値抽出手段により抽出された座標値を用いて測定対象物の3次元画像を生成する3次元画像生成手段と、を備えることを特徴とする、3次元形状測定装置。

IPC (1件)：

G01B 11/24

FI (1件)：

G01B11/24 K

Fターム (18件)：

2F065AA53 , 2F065DD04 , 2F065FF09 , 2F065GG04 , 2F065HH03 , 2F065HH18 , 2F065JJ02 , 2F065JJ19 , 2F065LL13 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065MM26 , 2F065MM28 , 2F065PP02 , 2F065QQ21 , 2F065QQ51 , 2F065RR05 , 2F065UU05

引用特許：

出願人引用 (1件)

三次元形状測定装置および方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-047298 出願人：株式会社アイ・エイチ・アイ・エアロスペース・エンジニアリング

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