特許
J-GLOBAL ID：201003066150620020

スラブの表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置

発明者：
楠本 義治

楠本 義治 について

, 
戸村 寧男

戸村 寧男 について

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本田 昭芳

本田 昭芳 について


出願人/特許権者：
JFEスチール株式会社

JFEスチール株式会社 について


代理人 (3件)： 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  崔 秀▲てつ▼
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-291551
公開番号（公開出願番号）：特開2010-117281
出願日： 2008年11月13日
公開日（公表日）： 2010年05月27日
要約：
【課題】スラブに発生したノロ噛み等の表面欠陥を精度よく検出することのできるスラブ表面欠陥検出方法を提供する。【解決手段】スラブ表面にレーザ光8を照射してスラブの表面凹凸状態を計測すると共に、スラブ表面を撮像してスラブの表面輝度分布を取得し、表面凹凸状態と表面輝度分布とからスラブ表面に発生した表面欠陥を検出する方法において、スラブ表面の長手方向における凹凸変化率を凹凸変化率算出回路11により算出すると共に、表面輝度分布の中で欠陥と判断されるスラブの低輝度表面部の位置と大きさを算出し、算出されたスラブの低輝度表面部の位置と凹凸変化率の絶対値が予め定めた閾値以上となった部分の位置とが一致したときに当該位置を欠陥位置と判定すると共に、欠陥位置と判定されたスラブの低輝度表面部の大きさを欠陥位置に発生した表面欠陥の大きさと判定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
スラブの表面にレーザ光を照射して前記スラブの表面凹凸状態を計測すると共に、前記スラブの表面を撮像して前記スラブの表面輝度分布を取得し、前記表面凹凸状態と前記表面輝度分布とから前記スラブの表面に発生した表面欠陥を検出する方法であって、 前記スラブの表面凹凸状態からスラブ表面の長手方向における凹凸変化率を算出すると共に、前記表面輝度分布の中で欠陥と判断されるスラブの低輝度表面部の位置と大きさを算出し、前記凹凸変化率の絶対値が予め定めた閾値以上となった部分の位置と前記低輝度表面部の位置とが一致したときに当該位置を欠陥位置と判定すると共に、前記欠陥位置と判定された低輝度表面部の大きさを前記欠陥位置に発生した表面欠陥の大きさと判定することを特徴とするスラブ表面欠陥検出方法。
IPC (1件)：
G01N 21/892
FI (1件)：
G01N21/892 B
Fターム (13件)：
2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051AB03 ,  2G051AB20 ,  2G051BA01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01
引用特許：
出願人引用 (12件)
  • 鋼片の表面疵検出装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-009267   出願人：新日本製鐵株式会社
  • 特開平2-224851号公報(第2頁左下欄2行目〜第2頁右下欄13行目)
  • 表面欠陥検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-173846   出願人：株式会社東芝
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審査官引用 (10件)
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