特許
J-GLOBAL ID:201003066325807803

撮像装置、画像処理装置および画像処理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 田辺 恵基
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-284049
公開番号(公開出願番号):特開2010-114556
出願日: 2008年11月05日
公開日(公表日): 2010年05月20日
要約:
【課題】被写体のエッジを適切に強調表示することが可能な技術を提供する。【解決手段】撮像装置1Aは、被写体像に関する撮影画像を取得する副撮像素子7と、撮影画像に含まれる高周波成分の評価値を画素ごとに取得する評価値取得部124と、撮影画像を構成する画素のうち、被写体のエッジ部分に対応したエッジ画素を特定するための基準となるエッジ閾値を、評価値に基づいて決定する閾値決定部125と、エッジ閾値を用いてエッジ画素を特定するエッジ画素特定部126と、副撮像素子7によって順次に取得される撮影画像に基づいて、モニタ12に本撮影前のプレビュー画像を表示させる表示制御部127とを備え、表示制御部127は、プレビュー画像においてエッジ画素を強調して表示させる。【選択図】図5
請求項(抜粋):
被写体像に関する撮影画像を取得する撮像素子と、 前記撮影画像に含まれる高周波成分の評価値を画素ごとに取得する評価値取得手段と、 前記撮影画像を構成する画素のうち、被写体のエッジ部分に対応したエッジ画素を特定するための基準となるエッジ閾値を、前記評価値に基づいて決定する決定手段と、 前記エッジ閾値を用いて前記エッジ画素を特定する特定手段と、 前記撮像素子によって順次に取得される前記撮影画像に基づいて、表示部に本撮影前のプレビュー画像を表示させる表示制御手段と、 を備え、 前記表示制御手段は、前記プレビュー画像において前記エッジ画素を強調して表示させる撮像装置。
IPC (4件):
H04N 5/225 ,  G02B 7/36 ,  G02B 7/28 ,  G03B 13/36
FI (6件):
H04N5/225 F ,  H04N5/225 A ,  H04N5/225 B ,  G02B7/11 D ,  G02B7/11 N ,  G03B3/00 A
Fターム (27件):
2H011DA05 ,  2H011EA10 ,  2H011EA11 ,  2H051BA47 ,  2H051GA03 ,  2H051GA13 ,  2H151BA47 ,  2H151GA03 ,  2H151GA13 ,  5C122DA03 ,  5C122DA04 ,  5C122EA19 ,  5C122FC01 ,  5C122FC02 ,  5C122FD01 ,  5C122FD02 ,  5C122FG13 ,  5C122FH03 ,  5C122FH07 ,  5C122FH10 ,  5C122FH16 ,  5C122FK12 ,  5C122FK24 ,  5C122HA88 ,  5C122HB01 ,  5C122HB05 ,  5C122HB06
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (2件)

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