特許
J-GLOBAL ID:201003072669324410

中空シリカ粒子の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 大谷 保 ,  東平 正道 ,  片岡 誠 ,  平澤 賢一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-202270
公開番号(公開出願番号):特開2010-037150
出願日: 2008年08月05日
公開日(公表日): 2010年02月18日
要約:
【課題】シングルナノ領域に周期性があり、かつ平均粒子径及び比表面積が小さい中空シリカ粒子、及びその製造方法を提供する。【解決手段】(1)粉末X線回折測定において、結晶格子面間隔(d)が1〜10nmの範囲に相当する回折角(2θ)に1本以上のピークを示し、窒素吸着法によるBET比表面積が30m2/g以下である中空シリカ粒子の製造方法であって、中空構造でありかつ外殻部にメソ細孔を有するBET表面積が100m2/g以上のメソポーラスシリカ粒子のメソ細孔内に、非酸化性雰囲気での焼成により炭化する炭素含有化合物を充填し、非酸化性雰囲気下で800°C以上で焼成して炭素支持体とした後、酸化性雰囲気下で加熱して、該炭素支持体を除去する工程を含む中空シリカ粒子の製造方法、及び(2)粉末X線回折測定において、結晶格子面間隔(d)が1〜10nmの範囲に相当する回折角(2θ)に1本以上のピークを示し、平均粒子径が0.05〜2μmであり、かつ窒素吸着法によるBET比表面積が30m2/g以下である中空シリカ粒子である。【選択図】なし
請求項(抜粋):
粉末X線回折測定において、結晶格子面間隔(d)が1〜10nmの範囲に相当する回折角(2θ)に1本以上のピークを示し、窒素吸着法によるBET比表面積が30m2/g以下である中空シリカ粒子の製造方法であって、中空構造でありかつ外殻部にメソ細孔を有するBET表面積が100m2/g以上のメソポーラスシリカ粒子のメソ細孔内に、非酸化性雰囲気での焼成により炭化する炭素含有化合物を充填し、非酸化性雰囲気下で800°C以上で焼成して炭素支持体とした後、酸化性雰囲気下で加熱して、該炭素支持体を除去する工程を含む、中空シリカ粒子の製造方法。
IPC (1件):
C01B 37/02
FI (1件):
C01B37/02
Fターム (26件):
4G072AA25 ,  4G072BB15 ,  4G072BB16 ,  4G072HH30 ,  4G072MM36 ,  4G072MM40 ,  4G072TT01 ,  4G072TT06 ,  4G072TT08 ,  4G072UU09 ,  4G073BB66 ,  4G073BB71 ,  4G073BB75 ,  4G073CZ54 ,  4G073FA18 ,  4G073FB30 ,  4G073FB42 ,  4G073FD24 ,  4G073FE04 ,  4G073FF04 ,  4G073GA03 ,  4G073GA11 ,  4G073GA12 ,  4G073GA13 ,  4G073UB19 ,  4G073UB25
引用特許:
出願人引用 (5件)
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