特許
J-GLOBAL ID:201003078399366513
非水電解質二次電池検査装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
八田国際特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-265643
公開番号(公開出願番号):特開2010-096548
出願日: 2008年10月14日
公開日(公表日): 2010年04月30日
要約:
【課題】非水電解質二次電池内部の電極間に存在する気泡およびX線吸収率の低い異物を検出することができる非水電解質二次電池検査装置を提供する。【解決手段】非水電解質二次電池100に平行X線310を照射するX線照射手段300を設け、X線照射手段によって照射された平行X線が非水電解質二次電池を透過したときに生ずる透過X線311を、屈折像によりX線検知手段320で検知する。【選択図】図3
請求項(抜粋):
非水電解質二次電池に平行X線を照射するX線照射手段と、
前記非水電解質二次電池を透過した透過X線を屈折像により検知するX線検知手段と、
を有することを特徴とする非水電解質二次電池検査装置。
IPC (3件):
G01N 23/04
, H01M 10/058
, H01M 10/04
FI (3件):
G01N23/04
, H01M10/00 115
, H01M10/04 Z
Fターム (27件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001JA15
, 2G001KA03
, 2G001KA05
, 2G001LA11
, 2G001MA08
, 5H028BB11
, 5H028CC02
, 5H028HH05
, 5H029AJ14
, 5H029AK03
, 5H029AL03
, 5H029AL06
, 5H029AL07
, 5H029AL11
, 5H029AL12
, 5H029AM03
, 5H029AM05
, 5H029AM07
, 5H029AM16
, 5H029CJ30
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (3件)
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X線断層検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-005683
出願人:松下電器産業株式会社
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プラスチック材料の非破壊検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-127133
出願人:学校法人聖マリアンナ医科大学
-
X線画像撮影装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-002458
出願人:コニカミノルタホールディングス株式会社
引用文献: