特許
J-GLOBAL ID:200903004507550453

プラスチック材料の非破壊検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西澤 利夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-127133
公開番号(公開出願番号):特開2003-315287
出願日: 2002年04月26日
公開日(公表日): 2003年11月06日
要約:
【要約】【課題】 プラスチック材料内のクラッキングや気泡等の内在物を高感度で非破壊検出することのできる、新しいプラスチック材料の非破壊検査方法を提供する。【解決手段】 指向性の高い単色X線(B)をプラスチック材料試料(4)に照射し、当該プラスチック材料試料(4)から発生する屈折X線(C)を検出できる程度にプラスチック材料試料(4)から離れた位置にて屈折X線(C)を検出し、この屈折X線(C)も加味してプラスチック材料試料(4)の内部画像を得る。
請求項(抜粋):
プラスチック材料を非破壊検査する方法であって、指向性の高い単色X線をプラスチック材料に照射し、当該プラスチック材料から発生する屈折X線を検出できる程度にプラスチック材料から離れた位置にて当該屈折X線を検出し、この屈折X線によってプラスチック材料の内部画像を得ることを特徴とするプラスチック材料の非破壊検査方法。
Fターム (9件):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA01 ,  2G001FA09 ,  2G001HA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA05
引用特許:
審査官引用 (9件)
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