特許
J-GLOBAL ID：201003079364726319
粒状物体の計数方法およびその方法を用いる計数装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
板谷 康夫
, 田口 勝美
, 水田 愼一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-213370
公開番号（公開出願番号）：特開2010-049501
出願日： 2008年08月21日
公開日（公表日）： 2010年03月04日
要約：
【課題】粒状物体の計数方法およびその方法を用いる計数装置において、粒状物体が3次元的に複雑に重なった場合であっても2次元画像に基づく計数方法よりも適用範囲を拡張可能とすると共に、計数精度を向上可能とする。【解決手段】粒状物体の集合物の外観表面に対して粒状物体の内部に相当する内部空間を定義し、内部空間に参照点を設定する参照点設定ステップ(#2)と、参照点を始点として内部空間のみを通して見える参照点を可視点とし、各始点について始点と可視点の組を形成する可視点選択ステップ(#3)と、前記組を可視点の数が少ない組の順に並べ替える整列ステップ(#4)と、可視点の数が少ない組から順に当該組に含まれる可視点と同一の点を始点とする順方向下位の組を消去する絞込ステップ(#5)と、絞込の後に残っている組の数を粒状物体の個数とする結果出力ステップ(#6)とを含む。外観表面の凸部に始点が生き残って、個数が求まる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
粒状物体の集合物の外観表面位置を計測して得られた3次元データを与えられて該3次元データを構成する粒状物体の個数を求める計数方法であって、
前記3次元データによって定義される外観表面に対して粒状物体の内部に相当する内部空間を定義し、外観表面の全面について該外観表面から所定の距離だけ内側に入った内部空間に所定の密度で参照点を設定する参照点設定ステップと、
前記参照点の任意の1点について、その点を始点とし他の参照点を終点とする直線のうち内部空間のみを通過する直線の終点を可視点として選択し、前記選択された可視点を前記始点に関連づけて1つの始点と1または複数の可視点とからなる組を形成する処理を、全ての参照点について行う可視点選択ステップと、
前記可視点選択ステップによって形成された始点と可視点とからなる複数の組を、可視点の数が少ない組の順に並べ替える整列ステップと、
前記整列ステップの後に可視点の数が少ない組から順に、当該組に含まれるいずれかの可視点と同一の点を始点とする順方向下位の組を消去する処理を、全ての組について行う絞込ステップと、
前記絞込ステップの後に消去されずに残っている組の数を粒状物体の個数として出力する結果出力ステップと、を含むことを特徴とする計数方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06M11/00 A
, G06M11/00 D
, G06M7/00 351
