特許
J-GLOBAL ID：200903067644955454

粒状物体の検査方法及びそれを用いる検査装置

発明者：
バネガス オスカル

バネガス オスカル について

, 
白澤 満

白澤 満 について


出願人/特許権者：
松下電工株式会社

松下電工株式会社 について


代理人 (2件)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-048032
公開番号（公開出願番号）：特開2006-234518
出願日： 2005年02月23日
公開日（公表日）： 2006年09月07日
要約：
【課題】検査対象の粒状物体が重なったり接触している場合でも粒状物体の個数を正確に計数できる粒状物体の検査方法及びそれを用いる検査装置を提供する。【解決手段】画像処理部3は、画像記憶部2に記憶された二値画像から粒状物体10a,10bに対応する塊領域を抽出し、塊領域の内側に輪郭線に沿って複数の参照点を分散配置し、各参照点について塊領域内を通して見通せる他の参照点の数を計数した後、対象領域内にある参照点から計数値が最小の参照点を基準点として抽出する処理と、当該基準点から対象領域の領域内を通して見通せる参照点を全て選択し、選択された全ての参照点及び基準点の間を互いに結んでできる領域を物体領域として抽出する処理と、対象領域から物体領域を除いた領域を新たな対象領域とする処理とを繰り返し行い、検査処理部5が抽出された基準点の数をもとに粒状物体の個数を求めている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査対象である粒状物体を含む撮像領域を撮像する撮像手段と、撮像手段の画像の各画素の画素値をデジタル化したデジタル画像内で、粒状物体に対応する物体領域が複数接触して1つの塊領域を形成する場合に前記塊領域から個々の前記物体領域を分離する機能を有した画像処理部と、を備える検査装置により撮像領域内に存在する粒状物体を検査する粒状物体の検査方法であって、 前記画像処理部では、前記デジタル画像から前記塊領域を画像処理の対象領域として抽出する処理と、前記塊領域の内側で当該塊領域の輪郭線に沿って複数の参照点を分散して配置する処理と、個々の参照点について当該参照点から前記塊領域の領域内を通して見通せる他の参照点の数を計数する計数処理とを行った後に、対象領域に存在する複数の参照点から前記計数処理による計数値が最小の参照点を基準点として抽出する処理と、当該基準点から前記対象領域の領域内を通して見通せる参照点を全て選択し、選択された参照点及び基準点の間を互いに結んでできる領域を物体領域として抽出する処理と、前記対象領域から前記物体領域を除いた領域を新たな対象領域とする処理とを繰り返し実行し、抽出された基準点の数を粒状物体の個数とすることを特徴とする粒状物体の検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/85 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/60
FI (4件)：
G01N21/85 A ,  G06T1/00 300 ,  G06T7/60 180D ,  G06T7/60 250B
Fターム (28件)：
2G051AA02 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA11 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051ED03 ,  2G051ED22 ,  5B057AA02 ,  5B057BA02 ,  5B057CA02 ,  5B057CA06 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CH20 ,  5B057DA08 ,  5B057DA13 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB08 ,  5B057DC16 ,  5L096AA03 ,  5L096AA07 ,  5L096EA22 ,  5L096EA35 ,  5L096FA06 ,  5L096FA77
引用特許：
出願人引用 (7件)
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