特許
J-GLOBAL ID：201003087039421911

高炉内装入物のプロフィル測定装置および測定方法

発明者：
松本 俊司

松本 俊司 について


出願人/特許権者：
新日本製鐵株式会社

新日本製鐵株式会社 について


代理人 (3件)： 萩原 康司 ,  金本 哲男 ,  亀谷 美明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-119417
公開番号（公開出願番号）：特開2010-174371
出願日： 2009年05月18日
公開日（公表日）： 2010年08月12日
要約：
【課題】大型高炉においても、高炉内の高濃度粉塵の影響を受けず、装置が小型かつ安価であって、短時間で測定可能な高炉内装入物のプロフィル測定装置および測定方法を提供する。【解決手段】プロフィル測定装置1は、高炉2の炉頂部に設置されたマイクロ波距離計11と、マイクロ波距離計11のマイクロ波放射方向を高炉の直径方向に走査させる走査駆動装置12と、マイクロ波距離計11から得られた距離データおよび走査駆動装置12から得られた走査角度データを組み合わせて、高炉内装入物4の表面プロフィルを演算するデータ処理部14とを具備する。マイクロ波距離計11は、炉体3の中心を挟んでマイクロ波距離計11の設置位置と反対側にある高炉内装入物4までの距離を測定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
高炉の炉頂部に設置され、高炉内装入物の表面までの距離を測定するマイクロ波距離計と、 前記マイクロ波距離計のマイクロ波放射方向を、高炉内装入物の表面において前記高炉の中心軸を通る直径方向に走査させる走査駆動装置と、 前記マイクロ波距離計から入力された距離データおよび前記走査駆動装置から入力された走査角度データを組み合わせて、前記高炉内装入物の表面プロフィルを演算するデータ処理部とを具備し、 前記高炉の中心軸を挟んで前記マイクロ波距離計の設置位置と反対側にある前記高炉内装入物の表面までの距離を測定することを特徴とする、高炉内装入物のプロフィル測定装置。
IPC (2件)：
C21B 7/24 ,  G01S 7/18
FI (2件)：
C21B7/24 302 ,  G01S7/18
Fターム (9件)：
4K015KA04 ,  5J070AB17 ,  5J070AC02 ,  5J070AD01 ,  5J070AD05 ,  5J070AE11 ,  5J070AF01 ,  5J070AH31 ,  5J070AK22
引用特許：
審査官引用 (4件)
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