特許
J-GLOBAL ID:201003092063294495

スペクトル分解X線撮像装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-540939
公開番号(公開出願番号):特表2010-512826
出願日: 2007年12月11日
公開日(公表日): 2010年04月30日
要約:
本発明は、観察周期(T)中に連続的に変化するエネルギースペクトル(P(E,t))を有するX放射線を生成するX線源(10)を有する、特にスペクトルCTスキャナである、X線撮像装置(100)に関する。好適な一実施形態において、放射線(X)は、エネルギーに依存する減衰係数(μ(E,r))に従って対象物(1)内で減衰し、透過した放射線が検出器(20,30)のセンサユニット(22)によって測定され、得られた測定信号(i(t))がサンプリングされ且つA/D変換される。これは好ましくは、例えばΣΔ-ADCといったオーバーサンプリングA/D変換器によって行われる。X線源を駆動する管電圧(U(t))が高周波でサンプリングされる。評価システム(50)にて、これらのサンプリングされた測定値が、対応する実効エネルギースペクトル(Φ(E))に関連付けられ、エネルギーに依存する減衰係数(μ(E,r))が決定される。
請求項(抜粋):
a)所与の観察周期中に連続的に変化するエネルギースペクトルを有するX線を放射するX線源; b)前記観察周期内の異なるサンプリング期間中に当該検出器のセンサユニットによって測定されたX線の量を表す、2以上である複数mの、放射線サンプリング値を生成する検出器; c)m個のサンプリング期間に関する前記X線源の実効的なエネルギースペクトルを決定するスペクトル推定ユニット; を有する、特にCTスキャナであるX線撮像装置。
IPC (3件):
A61B 6/03 ,  A61B 6/00 ,  G01N 23/04
FI (3件):
A61B6/03 373 ,  A61B6/00 333 ,  G01N23/04
Fターム (27件):
2G001AA01 ,  2G001AA09 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001EA06 ,  2G001FA08 ,  2G001FA20 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001HA07 ,  2G001HA08 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA02 ,  2G001LA10 ,  4C093AA07 ,  4C093AA22 ,  4C093CA04 ,  4C093CA32 ,  4C093EA07 ,  4C093EA11 ,  4C093FA18 ,  4C093FA44 ,  4C093FA59 ,  4C093FD08 ,  4C093FD11 ,  4C093FD12
引用特許:
審査官引用 (6件)
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