特許
J-GLOBAL ID：201003093093675740
変位測定センサ及び変位測定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
恩田 博宣
, 恩田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-220300
公開番号（公開出願番号）：特開2010-051586
出願日： 2008年08月28日
公開日（公表日）： 2010年03月11日
要約：
【課題】変位を感度良く測定するための変位測定センサ及び変位測定システムを提供する。【解決手段】平面素材からなる圧電フィルムを加工することにより、凸形状部101と、同じ形状を反転させた凹形状部102とを用いて構成する圧電フィルム構造体10を形成する。各凸形状部101、凹形状部102の各長辺部は、それぞれ平坦な帯状部を介して周期的に接続される。更に、凸形状部101と凹形状部102とは、半周期分ずらして、同じ傾きの斜面部が帯状部によって対峠するように相互に接続される。このように負のポアソン比を生ずるように折り込まれている圧電フィルム構造体10から出力される信号電圧を測定することにより、変位を測定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
圧力によって信号を出力する平面素材を用いて、変位を測定するためのセンサであって、
前記平面素材を折り込んで高さ方向に変化を設けたことを特徴とする変位測定センサ。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
4C038VA04
, 4C038VB01
, 4C038VB31
, 4C038VB33
, 4C038VC20
