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J-GLOBAL ID：201102200153703425   整理番号：11A1004587

吸着単分子層検出のためのin-situ XAFSの改良とPb-UPDへの適用

著者 (8件)： 瀬尾眞浩 ,  伏見公志 (北大 大学院工学研究院) ,  青木芳尚 (北大 大学院工学研究院) ,  幅崎浩樹 (北大 大学院工学研究院) ,  稲葉雅之 (コベルコ科研) ,  横溝臣智 (コベルコ科研) ,  早川敬済 (コベルコ科研) ,  中山武典 (神戸製鋼所 材料研)
資料名： 材料と環境講演集  (Proceedings of JSCE Materials and Environments)
巻： 2011  ページ： 185-188  発行年： 2011年05月20日 
JST資料番号： S0520C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *単分子層 ,  XAFS ,  鉛 ,  層 ,  その場観察 ,  *アンダポテンシャル電着 ,  ニッケル ,  金属板 ,  ニッケルめっき ,  エッチング ,  電解質溶液 ,  過塩素酸 ,  過塩素酸ナトリウム ,  酸化ナトリウム ,  吸着層
準シソーラス用語： *アンダーポテンシャル析出

分類 (1件)： 腐食基礎理論,腐食試験  (WB03020Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： 吸着 ,  単分子層 ,  XAFS ,  Pb