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J-GLOBAL ID：201102203751568400   整理番号：11A0144405

熱間平面歪圧縮試験を受けた316Lステンレス鋼における電子後方散乱回折を用いたミクロ組織不均一性のマッピング

Mapping microstructure inhomogeneity using electron backscatter diffraction in 316L stainless steel subjected to hot plane strain compression tests

著者 (6件)： SUN L. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  THOMAS M. J. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  WYNNE B. P. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  PALMIERE E. J. (Univ. Sheffield, Sheffield, GBR) ,  MINGARD K. P. (National Physical Lab., Middlesex, GBR) ,  ROEBUCK B. (National Physical Lab., Middlesex, GBR)
資料名： Materials Science and Technology  (Materials Science and Technology)
巻： 26  号： 12  ページ： 1477-1486  発行年： 2010年12月 
JST資料番号： C0304C  ISSN： 0267-0836  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 熱間平面歪圧縮(PSC)試験片内の不均一性の発生に及ぼす摩擦効果及びこの不均一性を定量化し,表現する方法に注目した。そのような電子後方散乱回折(EBSD)問題も扱い,雑音低減法や結晶粒再構成法による線形中断測定も含むた。更に,広域なEBSDマップに渡り測定結果を視覚化の難しさを解決する結晶粒度マッピング法を導入した。適切な摩擦係数を用いた優れた使用指針に従い,PSC試験中の流れ曲線の工具と試験片の摩擦の影響を修正できた。しかし,摩擦が高いと,試験片内の不均一変形の範囲が広くなった。定量金属組織学の測定ツールとして電子後方散乱回折を利用できた。しかし,信頼性のある測定に不可欠な高品質のマップを得るための試料調製及びデータ収集中には注意が必要である。取得後解析の間の念入りで一致した雑音低減の適用にのみ,測定結果は比較でき,信頼できる。広範なEBSDマップの円形相当直径を用いた結晶粒度測定には,収集したデータ量は圧倒的になる可能性がある。移動平均法は長距離にわたるばらつきを抽出し表示する手段となった。結晶粒群の分離でミクロ組織の不均一性の詳細を洞察できる。

シソーラス用語： 不均一性 ,  電子回折 ,  *オーステナイト系ステンレス鋼 ,  *金属組織 ,  摩擦 ,  結晶粒度 ,  摩擦係数 ,  結晶粒 ,  *圧縮試験 ,  平面歪 ,  金属組織学 ,  雑音低減 ,  移動平均法
準シソーラス用語： *SS316L ,  定量金属組織学 ,  電子後方散乱回折

分類 (2件)： 変態組織,加工組織  (WB01030N) ,  材料試験  (HB02020U)

タイトルに関連する用語 (7件)： 平面歪 ,  圧縮試験 ,  316Lステンレス鋼 ,  電子後方散乱回折 ,  ミクロ組織 ,  不均一性 ,  マッピング